| 半导体级别故障预测与健康管理 |
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| 引用本文： | 王浩,罗宏伟,陈媛. 半导体级别故障预测与健康管理[J]. 电子产品可靠性与环境试验, 2011, 29(5): 58-62 |
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| 作者姓名： | 王浩 罗宏伟 陈媛 |
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| 作者单位： | 1. 广东工业大学材料与能源学院,广东 广州510006;工业和信息化部电子第五研究所,广东 广州 510610;电子元器件可靠性物理及其应用技术国家级重点实验室,广东广州510610
2. 工业和信息化部电子第五研究所,广东 广州 510610;电子元器件可靠性物理及其应用技术国家级重点实验室,广东广州510610 |
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| 摘 要： | 随着集成电路特征尺寸按比例缩小,其可靠性问题越来越突出.为了避免因集成电路失效而发生灾难性后果,有必要对集成电路进行故障预测与健康管理.首先,介绍了故障预测与健康管理技术的发展概况；然后,阐述了实施半导体级别故障预测与健康管理的两个主要方法:预兆单元法和失效先兆监测推理法,并根据相关案例进行了分析；最后,指出了该技术面...
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| 关 键 词： | 故障预测与健康管理 半导体产品 预兆单元 失效先兆 |
Review of Prognostics and Health Management on the Semiconductor-Level |
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| WANG Hao,LUO Hong-wei,CHEN Yuan. Review of Prognostics and Health Management on the Semiconductor-Level[J]. Electronic Product Reliability and Environmental Testing, 2011, 29(5): 58-62 |
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| Authors: | WANG Hao LUO Hong-wei CHEN Yuan |
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| Affiliation: | 2,3(1.School of Materials and Energy,Guangdong University of Technology,Guangzhou 510006,China;2.CEPREI,Guangzhou 510610,China;3.National Key Laboratory for Reliability Physics and Application Technology of Electronic Product,Guangzhou 510610,China) |
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| Abstract: | With the feature size of ICs(integrated circuits)scaling down,their reliability problems become more and more severe.Implementation of PHM to ICs is to prevent catastrophes from occurring.In this paper,the development of PHM is introduced at first.Then two main methods of semiconductor-level PHM are illustrated with some cases.Finally,some challenges for the technology are presented. |
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| Keywords: | PHM semiconductor prognostic cell precursor |
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