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| 10℃法则与多层瓷介电容器的贮存寿命试验 | |
| 引用本文： | 杜红炎,唐欣,冯建琼,孙淑英.10℃法则与多层瓷介电容器的贮存寿命试验[J].电子产品可靠性与环境试验,2011,29(4):21-24. |
| 作者姓名： | 杜红炎 唐欣 冯建琼 孙淑英 |
| 作者单位： | 北京元六鸿远电子技术有限公司,北京,100070 |
| 摘 要： | GJB/Z 148-2006《军用电容器选择与应用指南》提出的10℃法则,是表征元件寿命与温度应力关系的简便估算方式,它对于估算实际的使用条件下多层瓷介电容器的长期贮存寿命有着重要的意义。列举了国外对于多层瓷介电容器激活能的研究成果,并通过经典的温度加速模型与10℃法则的关系,证明了10℃法则对于多层瓷介电容器的加速寿命试验的适用性;同时认为根据10℃法则进行贮存寿命试验所得到的结果比使用经典的温度加速模型得到的结果更加可信。 |
| 关 键 词： | 10℃法则 多层瓷介电容器 加速寿命试验 激活能 |
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