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基于异构忆阻器的1T2M多值存储交叉阵列设计
引用本文:孙晶茹,李梦圆,康可欣,邾少鹏,Sun Yichuang.基于异构忆阻器的1T2M多值存储交叉阵列设计[J].电子与信息学报,2022,43(6):1533-1540.
作者姓名:孙晶茹  李梦圆  康可欣  邾少鹏  Sun Yichuang
作者单位:湖南大学信息科学与工程学院 长沙 410082;北京邮电大学电子工程学院 北京 100089;英国赫特福德大学物理工程与计算机科学学院 哈特菲尔德 英国 AL109AB
摘    要:忆阻器作为一种新型电子元件,具有尺寸小、读写速度快、非易失性和易于与CMOS电路兼容等特性,是实现非易失性存储器最具发展前景的技术之一.但是已有的多值存储交叉阵列存在电路结构复杂、漏电流和存储密度低等问题,影响了多值存储交叉阵列的实用性.该文提出一种基于异构忆阻器的多值存储交叉阵列,其中存储单元由1个MOS管和两个具有不同阈值电压和Ron阻值的异构忆阻器构成(1T2M),可实现单个电压信号完成4值读写的操作,减少电流通路的同时简化了电路结构.通过PSpice进行仿真验证,表明所提出的1T2M多值存储器交叉阵列与已有工作相比,电路结构更简单,读写速度更快,并较好地克服了漏电流问题.

关 键 词:忆阻器  存储器  交叉阵列  漏电流

Design of Heterogeneous Memristor Based 1T2M Multi-value Memory Crossbar Array
SUN Jingru,LI Mengyuan,KANG Kexin,ZHU Shaopeng,SUN Yichuang.Design of Heterogeneous Memristor Based 1T2M Multi-value Memory Crossbar Array[J].Journal of Electronics & Information Technology,2022,43(6):1533-1540.
Authors:SUN Jingru  LI Mengyuan  KANG Kexin  ZHU Shaopeng  SUN Yichuang
Abstract:
Keywords:
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