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非制冷红外探测器夹层厚膜工艺及介电性能研究
引用本文:范茂彦,姜胜林,谢甜甜,张洋洋,张丽芳.非制冷红外探测器夹层厚膜工艺及介电性能研究[J].功能材料,2009,40(7).
作者姓名:范茂彦  姜胜林  谢甜甜  张洋洋  张丽芳
作者单位:1. 华中科技大学电子科学与技术系,湖北,武汉,430074;玉溪师范学院,云南,玉溪,653100
2. 玉溪师范学院,云南,玉溪,653100
3. 华中科技大学电子科学与技术系,湖北,武汉,430074
基金项目:国家重点基础研究发展计划(973计划)资助项目(2004CB619300);;新世纪人才支持计划基金资助项目(NCET-04-0703)
摘    要:以钡、锶和锰醋酸盐为原料,采用新型溶胶-凝胶法制备锰掺杂4%mol、Ba/Sr分别为60/40、65/35和70/30的纳米粉体,均匀分散于组分相同的BST溶胶中,形成稳定的厚膜先体凝胶.浓度0.4mol/L钛酸钡凝胶薄膜种子层,作为不同组分厚膜之间的中间夹层.利用旋转涂覆工艺在LNO/Pt/Ti/SiO2/Si复合底电极上,制备出厚度约为6~10μm的BST介电增强型夹层厚膜.XRD测试结果表明,650℃热处理2h后的夹层厚膜为单一钙钛矿相,750℃热处理后2h的夹层厚膜在室温、环境温度25℃、频率1kHz下相对介电常数εγ和介质损耗tanδ分别约为1200和0.03,室温25℃附近较宽范围介温变化率>1.2%/℃,BST夹层厚膜无裂纹出现,表面平整,致密,是制备大阵列非制冷红外焦平面阵列(UFPA)的优选材料.

关 键 词:红外  新型sol-gel技术  LNo/Pt复合底电极  夹层厚膜  介电增强

Interlining thick film process and dielectric property of uncooled infrared detector
FAN Mao-yan , JIANG Sheng-lin , XIE Tian-tian , ZHANG Yang-yang , ZHANG Li-fang.Interlining thick film process and dielectric property of uncooled infrared detector[J].Journal of Functional Materials,2009,40(7).
Authors:FAN Mao-yan  JIANG Sheng-lin  XIE Tian-tian  ZHANG Yang-yang  ZHANG Li-fang
Affiliation:1.Department of Electronic Science and Technology;Huazhong University of Science and Technology;Wuhan 430074;China;2.Yuxi Normal University;Yuxi 653100;China
Abstract:
Keywords:infrared  new sol-gel process  LNO/Pt composite bottom electrode  interlining thick film  dielectric reinforcement  
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