|
|||||
|
|
| 半导体测试GPIB接口的联合调试系统 | |
| 引用本文： | 张妍,金杰. 半导体测试GPIB接口的联合调试系统[J]. 电子产品世界, 2005, 0(24): 83-85 |
| 作者姓名： | 张妍 金杰 |
| 作者单位： | 天津大学，天津大学 |
| 摘 要： | 复杂的半导体自动测试系统如果出现GPIB接口问题将影响测试生产的效率,本文开发的半导体自动测试GPIB接口的联合调试系统,可以分别与测试系统和测试机进行接口调试,以帮助工程师解决在实际测试生产中半导体自动测试系统的GPIB接口问题. |
| 关 键 词： | 半导体测试 自动测试系统 测试系统 测试机 联合调试系统 |
Trouble Shooting System of Semiconductor Test GPIB Interface |
|
| Abstract: | |
| Keywords: | GPIB |
| 本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录！ | |
