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1.
用于VLSI的SiO_xN_y薄膜的界面陷阱 总被引:3,自引:1,他引:2
陈蒲生 《固体电子学研究与进展》1992,12(4):336-341
采用雪崩热电子注入技术研究了用于VLSI的快速热氮化的SiO_xN_y薄膜界面陷阱。给出这种薄介质膜禁带中央界面陷阱密度随氮化时间的变化关系,观察到这种薄膜存在着不同类型的密度悬殊很大的电子陷阱。指出雪崩热电子注入过程中在Si/SiO_xN_y界面上产生两类性质不同的快界面态陷阱,并给出这两种陷阱在禁带中能级位置及密度大小关系;同时还给出禁带中央界面陷阱密度随雪崩注入剂量呈现弱“N”形变化关系,并对实验结果进行了讨论。 相似文献
2.
3.
从体积法的数据、原理到功能实现,提出了一个完整的体积法计算圈闭资源量的计算机软件功能实现方案。重点探讨了软件在实现过程中所涉及的确定性和不确定性两种方法,并介绍了不确定方法参数概率分布设置的4种方法:利用分布模型库、端值法、等值线法和面积-深度图版法。通过某构造圈闭资源量计算实例应用,表明该软件系统能满足计算过程中各种功能的需求,在实际工作中能够较好地应用到具体的资源量预测和评价中。 相似文献
4.
针对FOM网络管理系统的组成和功能设计了软件的总体构架.着重阐述了代理的设计,包括MIB树的设计、MIB初始化、MIB访问以及Trap的实现.经过测试,证明了设计的正确性. 相似文献
5.
李铭华 《江汉石油职工大学学报》2013,26(5):1-2,5
对江汉白垩系冲积扇沉积储层进行模式识别及定性预测,从振幅、波阻抗、速度三种方法预测结果比较分析看,速度反演结果更可信、更可靠,速度反演为该区白垩系储层预测的主要敏感参数,对江汉白垩系下步勘探有重要指导作用。结合钻后效果分析,认为速度反演更能有效区分砂、砾岩,是白垩系冲积扇储层预测最有效手段之一。 相似文献
6.
沉积相与物探技术相结合,是对盐湖盆地潜江凹陷特殊地质条件以及实际精细勘探的需要。可用成熟的复合相控砂体预测技术在潜江组储层预测中区分多种复杂岩性、识别不同厚度砂体。 相似文献
7.
8.
Hua-Min Li 《Thin solid films》2010,518(22):6382-6384
The deep trap properties of high-dielectric-constant (k) ZrO2 thin films were examined by deep level transient spectroscopy (DLTS). The hole traps of a ZrO2 dielectric deposited by sputtering were investigated in a MOS structure over the temperature range, 375 K-525 K. The potential depth, cross section and concentration of hole traps were estimated to be ∼ 2.5 eV, ∼ 1.8 × 10− 16 cm2 and ∼ 1.0 × 1016 cm− 3, respectively. DLTS of ZrO2 dielectrics can be used to examine the threshold voltage shift (?Vth) during the operation of SONOS-type flash memory devices, which employ high-k materials. 相似文献
9.
10.