基于模式理论光栅椭偏参数反演的数值模拟

将一种广泛用于求解系统优化问题的方法——正单纯形法，求解光栅的椭偏方程。首先，利用求解光栅的傅立叶模式理论对TE和TM波的复反射系数进行求解。然后计算出其相应的椭偏参数(△，Ψ)，并在该值的基础上加入不同偏差的随机高斯噪声，将加入噪声后的值(△m，Ψm)作为模拟测量值。最后使用优化算法进行反演。通过对几种常用面形光栅椭偏参数的数值模拟，一方面表明傅立叶模式理论计算光栅的椭偏参数不仅精度高。而且速度快；另一方面表明利用正单纯形法得到的光栅参数值很接近于正演时假设的参数值，从而从理论上证明了利用椭偏法测量光栅各种光学参数的可行性。     

核电材料在模拟反应堆环境中应力腐蚀破裂测试技术与性能评价

简要介绍了采用慢应变速率试验，Ｕ型弯曲和Ｃ形环试验等技术，分别对８００合金，３０４和３１６及３１６Ｔｉ不锈钢Ａ５３３Ｂ压力容器用多在模拟核反应堆环境中的应力腐蚀破裂敏感性性进行的试验研究的一些主要结果；并结合电化学测试和表面膜俄歇电子能谱分析结果进行了讨论。     

利用多普勒信息的波达方向最大似然估计方法

为了充分利用信号的时域特性来改善信号波达方向（ＤＯＡ）的估计性能，本文从最大似然估计出发，推导出了有限快拍，低信噪比情况下多普勒信号波达方向的迭代估计计算法，为进一步减小运算量，本文还推导了一种简化算法，本文提出的两种算法对低信噪比，少快拍数下多普勒信号的ＤＯＡ估计性能比不利用时域特性的ＭＬ方法有明显改善，Ｍｏｎｔｅ－Ｃａｒｌｏ实验验证了本文方法的有效性。     

Electrical/electronic effects of titanium and iron impurities in EFG and FZ solar cell silicon: SPV/EBIC analysis

In this paper results on surface photovoltage (SPV) and electron beam induced conductivity (EBIC) studies of edge-defined film-fed growth (EFG) and floating zone (FZ) silicon solar cell materials (both p-type) are presented. A systematic comparison based on minority carrier diffusion length and carrier recombination is made between: (i) samples contaminated with Ti and/or Fe, (ii) samples gettered by phosphorous diffusion, and (iii) as-received samples. Deep level transient spectroscopy (DLTS) measurements, together with the iron-boron (FeB) pairing kinetics [1] have successfully been used to detect the presence of Fe in the samples. Even though this process is effective in revealing Fe impurities in p-type FZ silicon it is evidently not suitable for Fe identification in p-type EFG silicon. Ti, like Fe, is found to be a prominent lifetime-limiting metallic impurity in both EFG and FZ silicon. Phosphorous diffusion is proven to be an effective external gettering technique for fast-diffusing impurities such as Fe, but not for Ti.     

Flash-lamp annealing of semiconductor materials—Applications and process models

Flash-lamp annealing (FLA) on a millisecond time scale has been shown to be a promising tool in the preparation of high-quality semiconducting materials. The process imposes time varying through-thickness temperature profiles on the substrates being processed, and consequently thermal stresses. A combined thermal and optical model has been developed to predict the substrate temperature distribution and this model has been linked to a structural model to compute stresses and deflections. The paper shows how these models can be used to explore process conditions in flash lamp annealing, with particular regard to the annealing of ion implants in silicon and the crystallization of amorphous silicon layers on glass substrates.     

运动估计块匹配两级搜索算法

根据视频图像相邻块在空间上具有很大的相关性,吸收了矢量预测块匹配的核心思想,提出一种两级块匹配运动估计算法,在第一级中,首先根据矢量预测确定一个小区域,然后在此区域内进行快速搜索,如果在第一级中没有搜索到匹配块则进行第二级搜索,该算法可大大提高搜索速度.     

面向大规模定制的虚拟设计研究

综述了大规模定制的范围经济性和面向大规模定制的基本设计方法，并提出了一个虚拟设计框架，该框架改变了传统的设计模式，利用先进的设计方法学和仿真支撑技术为产品开发提供了最大柔性和敏捷性。同时，它提供了一个多学科合作的设计环境，用户直接参与进设计循环中。最后，结合新型剑杆织机的开发，展示了一个能够支持新产品快速成功开发的虚拟设计环境。     

一种新的环网故障诊断与重构算法

为提高环网的容错性能，文献（1）提出了一种基于事件驱动的故障重构算法，其缺点是该算法只能容忍连线故障。本文给出一种新的采用时钟起时驱动的重构算法，该算法既能容忍连线故障也能容忍站（或节点）故障，且令牌控制较文献（1）的简单。     

液晶显示器生产中的激光退火和缺陷修复

由于在大面积玻璃基底上制备由多层材料构成的高质量薄膜晶体管象元驱动阵列工艺的复杂性，使有源矩阵液晶显示器（AMLCD）的成品率低、价格高。利用激光对AMLCD进行非晶硅薄膜的退火和电路缺陷的修复，可有效的改善AMLCD的性能，提高成品率和降低成本。本文在介绍了激光对非晶硅薄膜退火和电路缺陷修复常用激光器的特性后，讨论了激光对不同类型缺陷修复的原理和过程。最后，分析比较了不同类型激光退火方法的特点。