斜顶机构的干涉现象分析及解决措施研究

斜顶机构的干涉现象是影响注塑模具设计和产品注塑成型的重要因素之一,通过对斜顶机构的运动轨迹进行分析和研究,明确了斜顶机构、产品和模具零部件之间的位置关系,总结了斜顶机构干涉现象产生的原因及解决措施,提升了模具设计的效率。     

新加坡研制出医用纳米透明薄膜

新加坡科研人员最近利用纳米技术，成功研制出一种有助于患者伤口愈合的透明薄膜。     

国产双向拉伸聚丙烯薄膜(BOPP)生产线开发成功的经验总结

一、设备技术概况 我公司多年来始终以技术开发为宗旨,不断地进行技术积累,提高设备制造过程中的技术含量,经这三年精心策划、精心制作。于2002年12月份制造出整套与国际同类产品较接近的生产线设备,并一次试机成功。     

新型高K栅介质ZrO2薄膜材料的制备及表征

采用超高真空电子束蒸发法制备了新型高 K栅介质-非晶 ZrO2薄膜. X射线光电子能谱 (XPS) 中 Zr3d5/2 和 Zr3d3/2 对应的结合能分别为 182.1eV和 184.3eV, Zr元素的主要存在形式为 Zr4+,说明薄膜由完全氧化的 ZrO2组成 ,并且纵向分布均一.扩展电阻法( SRP)显示 ZrO2薄膜的 电阻率在 108Ω@ cm以上,通过高分辨率透射电镜( HR- XTEM)可以观察 ZrO2/Si界面陡直,没有 界面反应产物 ,证明 600℃快速退火后 ZrO2薄膜是非晶结构.原子力显微镜( AFM)表征了薄膜的 表面粗糙度,所有样品表面都很平整,其中 600℃快速退火样品 (RTA)的 RMS为 0.480nm.     

复合土工膜在某老坝防渗处理中的应用

复合土工膜可广泛应用于水工建筑物的防渗工程中。结合某老坝防渗处理工程,详细介绍了复合土工膜作为防渗构件的设计和施工技术。     

薄膜的截面TEM样品制备

薄膜材料的厚度仅为微米量级或者更薄，对其微结构的研究十分困难，许多表征方法难以采用。透射电子显微分析（TEM）是薄膜材料微结构研究最重要的手段之一。尽管采用TEM平面样品研究薄膜的微结构在样品制备方面相对容易，但由于薄膜依附于基材生长，且通常具有择优取向和柱状晶生长等微结构特征，因而采用截面样品从薄膜生长的横断面进行观察和研究，可以得到更多的材料微结构信息。但是薄膜的TEM截面样品制备过程较为繁杂，难以掌握。已有的文献主要介绍了Si基片上生长薄膜的TEM截面样品制备方法，对金属基片薄膜截面样品的制备方法介绍不多。     

PVDF压电薄膜传感器及其应用

聚偏二氟乙烯(PVDF)压电薄膜传感器频响范围大、具有热电效应等的特性，应用潜力很大．在智能系统中用作传感器和作动器，在振动检测方面主要应用于音乐拾音、机器状态监测、轴承磨损、风扇气流和绳带断裂等，在加速度检测中作加速度计，在无损检测(NDT)中以传感器阵列的形式出现，还可用于人体运动、体育计分，人体健康、开关、打印头，乐器、麦克风，声纳，售货等的监测．     

等倾干涉条纹的数字化处理方法

文章全面介绍了用条纹中心法自动分析处理等倾干涉条纹的详细过程 ,它通过对图像的二值化、细化、修补、标记等步骤来完成 ,涉及了条纹中心线的提取、条纹缺陷的消除、条纹直径的获取等关键内容。文章最后给出了试验的结果并讨论了等倾干涉条纹图的数字化自动分析处理软件的编制