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1.
针对不同地质目标的叠前时间偏移成像解释评价 总被引:3,自引:0,他引:3
随着计算机硬件和地震勘探成像技术的发展,叠前时间偏移正逐步替代常规的NMO加DMO加叠后时间偏移成为地震数据成像处理方法的主流。但对于不同的地质目标,叠前时间偏移的成像效果是否优于常规NMO加DMO加叠后时间偏移的成像效果呢?为此,从地震数据成像处理方法、处理流程和处理参数等方面进行了讨论,并基于某地区三维数据常规处理结果和叠前时间偏移处理结果,针对不同地质目标进行了剖析与评价。认为:叠前时间偏移成像的垂向分辨率较常规处理明显降低,但对于空间波阻抗变化明显的河流和断层,叠前时间偏移成像的空间分辨率要高于常规处理;对于小于1/4波长的叠置薄储层,叠前时间偏移成像的垂向和空间分辨率低于常规处理结果。 相似文献
2.
软件集成测试技术研究 总被引:1,自引:0,他引:1
首先分析了集成测试的原理和特点,并指出了集成测试的重要性。然后结合传统软件与面向对象软件开发的方法和技术,详细介绍了传统软件的集成测试方法和策略,并深入分析了面向对象软件集成测试的原理和方法。 相似文献
3.
4.
5.
Test Case Generation as an AI Planning Problem 总被引:6,自引:0,他引:6
Adele E. Howe Anneliese von Mayrhauser Richard T. Mraz 《Automated Software Engineering》1997,4(1):77-106
While Artificial Intelligence techniques have been applied to a variety of software engineering applications, the area of automated software testing remains largely unexplored. Yet, test cases for certain types of systems (e.g., those with command language interfaces and transaction based systems) are similar to plans. We have exploited this similarity by constructing an automated test case generator with an AI planning system at its core. We compared the functionality and output of two systems, one based on Software Engineering techniques and the other on planning, for a real application: the StorageTek robot tape library command language. From this, we showed that AI planning is a viable technique for test case generation and that the two approaches are complementary in their capabilities. 相似文献
6.
埋地管道涂层检测技术现状 总被引:3,自引:0,他引:3
李继华 《石油化工腐蚀与防护》1998,15(4):4-6,52
文章对各种埋地管道涂层检测技术进行了综述,并指出了各种技术的优缺点及应用前景. 相似文献
7.
提出了一种用于检测在役车辆车轴产生疲劳裂纹的超声波方法,设计了中心孔探头与斜角探头一起,完成了对车辆车轴的关键区域探伤。 相似文献
8.
Generation of Technology-Independent Retargetable Analog Blocks 总被引:1,自引:0,他引:1
R. Castro-López F. V. Fernández F. Medeiro A. Rodríguez-Vázquez 《Analog Integrated Circuits and Signal Processing》2002,33(2):157-170
This paper introduces a complete methodology for retargeting of analog cells to different sets of specifications. This methodology is technology-independent, thus allowing the migration, from one technology to another, of the circuit under retargeting. Careful integration of the device sizing and layout generation tasks via the incorporation of layout constraints during the sizing process allows to generate fully functional designs in a few minutes. The methodology is illustrated via the retargeting of a fully-differential Miller-compensated two-stage operational amplifier for a new set of specifications and two different technological processes.An erratum to this article can be found at 相似文献
9.
Chih-Wea Wang Chi-Feng Wu Jin-Fu Li Cheng-Wen Wu Tony Teng Kevin Chiu Hsiao-Ping Lin 《Journal of Electronic Testing》2002,18(6):637-647
In this paper we propose a novel built-in self-test (BIST) design for embedded SRAM cores. Our contribution includes a compact and efficient BIST circuit with diagnosis support and an automatic diagnostic system. The diagnosis module of our BIST circuit can capture the error syndromes as well as fault locations for the purposes of repair and fault/failure analysis. In addition, our design provides programmability for custom March algorithms with lower hardware cost. The combination of the on-line programming mode and diagnostic system dramatically reduces the effort in design debugging and yield enhancement. We have designed and implemented test chips with our BIST design. Experimental results show that the area overhead of the proposed BIST design is only 2.4% for a 128 KB SRAM, and 0.65% for a 2 MB one. 相似文献
10.
钢坯在炉内的横向跑偏和纵向跑偏位移量,是步进式加热炉设备的重要性能之一.重点介绍了鞍钢1780热连轧生产线步进式加热炉钢坯跑偏测试的应用技术. 相似文献