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1.
利用溶剂热法获得前驱体,结合热处理合成Eu^3+掺杂单分散Y2O3微球荧光粉。通过X射线衍射仪、扫描电子显微镜、荧光分析仪对样品的晶体结构、微观形貌及荧光性能进行了表征与分析。结果表明:制备的样品均为立方相Y2 O3微球结构,尺寸均一、粒径大小为2μm左右;Eu^3+掺杂的样品在239 nm紫外光的激发下,展示出强烈的红光发射,该发射峰位于612 nm附近,源于Eu^3+的5 D0→7 F2跃迁;随着Eu^3+掺杂浓度的递增,该发光峰呈现出先增强后减弱的趋势,其最佳掺杂浓度为5%(摩尔分数);此外,随着热处理温度逐渐升高,样品的结晶性增强,荧光随之增强;Y2 O3∶5%Eu^3+荧光粉的色坐标为(0.583,0.335),接近NTSC标准(美国国家电视系统委员会)红光色坐标(0.670,0.330)。  相似文献   
2.
通过溶胶-凝胶法制备出一系列Gd2-2xZnTiO6∶xSm3+(x=0,0.01,0.03,0.05,0.07,0.09,0.11)橙红色荧光粉,并对样品的晶体结构、微观形貌及荧光性能进行了测试和研究。结果表明:所制Gd2ZnTiO6∶Sm3+(GZT∶Sm3+)荧光粉均为双钙钛矿结构,属于单斜晶系(空间群:P21/n),由几十微米大小无规则形状的颗粒堆积而成。在407nm近紫外光激发下,GZT∶Sm3+的发射光谱展示出两个较弱的发射峰(4G5/26H5/2,566nm;4G5/26H9/2,650nm)和一个较强的发射峰(4G5/26H  相似文献   
3.
针对晶圆生产过程中晶圆图数据角度与维度多样性和数量不平衡的特点,提出了基于对抗生成网络的晶圆图缺陷模式识别方法。设计了Radon变换,实现了数据多角度的统一;采用重采样机制实现数据多维度的缩放,得到了标准晶圆缺陷数据。提出了基于对抗生成网络的晶圆缺陷分类方法,利用生成机制平衡各缺陷模式的样本数量,以提升缺陷模式识别精度。试验结果表明,该方法可大幅提升少类样本的识别精度,且在整体识别率上远优于支持向量机和Adaboost算法。  相似文献   
4.
采用溶胶-凝胶法合成了一系列橙红色发光的Y2-2xMgTiO6∶2xSm3+(YMT∶2xSm3+,0≤x≤0.11)荧光粉。通过粉末X射线衍射仪(XRD)、扫描电子显微镜(SEM)、光致发光激发和发射光谱对样品进行了表征分析。结果表明,所制备的YMT∶Sm3+样品为纯相,无任何杂质;荧光粉颗粒尺寸为2~3μm,分散性较好且无明显团聚。在407 nm的近紫外光激发下,样品的发射光谱在500~700 nm波长范围内存在三个显著的发射峰,分别是603 nm(4G5/26H7/2)和650 nm(4G5/26H9/2)处较强的红光,以及566 nm(4G5/26H5/2)处较弱的绿光。Sm3+离子...  相似文献   
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