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1篇
学科分类
工业技术
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出版年
2009年
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1
1.
SPC在软件过程度量中的应用及改进
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杜庆峰
马慧珺
《计算机工程》
2009,35(24):103-104
在介绍软件过程度量原理的基础上,讨论Shewhart控制图的构成和分析方法。结合实例,分析统计过程控制在软件过程度量中的作用。针对传统Shewhart控制图无法区分软件过程之间影响的缺陷,借助选控图理论对现有方法在软件过程度量中的不足提出改进。有效区分软件过程的相互作用,定性和定量地分析软件过程的稳定性和性能。
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