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1.
RFIC自动测试方案设计
吴正平
贡树青
于清清
吴功臣
张伟伟
《微型机与应用》
2012,31(22)
为解决射频芯片设计企业对射频芯片自能测试的要求,在比较分析了国内外射频自动测试方案和标准的基础上,提出了基于LabVIEW的GUI风格软件平台,通过GPIB总线接口与测试仪器进行通信、控制和数据采集的射频芯片自动测试方案。以上位机软件为核心,通过虚拟仪器技术控制各测试仪器进行协调工作,完成芯片的参数设置、数据采集和报表分析等工作,本套系统完全实现了射频芯片测试的自动化,节省了大量的测试时间。
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