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学科分类
工业技术
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2003年
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1
1.
搜索三个不同坏硬币的测试次数
张瑞
李秀森
李功胜
潘月君
《数值计算与计算机应用》
2003,24(2):129-132
§1.简介 设S={c_1,c_2,…,c_n}是由n个外观相同的硬币组成的集合,其中恰有m个稍重的坏硬币,试用最少的测试次数找出这m个坏硬币.以μ_m(n)表示最少测试次数,由信息论可知
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