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1.
针对信号处理中采用FIR数字滤波器对信号进行滤波后将产生相位延迟的现象,从FIR数字滤波器的相位特性出发,分析并推导了产生这种延迟现象的原因,得到了FIR数字滤波器的阶数和相位延迟的关系。采用基于波形匹配的数据扩展的方法对原始的信号进行端点延拓,再对延拓后的信号进行FIR滤波,可以很好地消除这种相位延迟的现象。Matlab仿真结果证明运用该方法滤波后的信号相位与原始信号相位一致,相位延迟被消除了。通过对信号的Simulink仿真实验及分析,也证实该方法可以有效消除FIR数字滤波器产生的相位延迟。  相似文献   
2.
半导体激光器自动控制系统设计   总被引:6,自引:0,他引:6  
根据半导体激光二极管的工作原理 ,设计了一种利用单片机实现半导体激光器功率稳定输出的自动控制系统。该系统包括恒流源、光功率反馈、保护电路、温度控制等部分。系统具有激光功率值的实时控制、显示和设置 ;工作温度值的实时控制、显示和设置 ;系统软开关和软保护等功能。  相似文献   
3.
4.
一种高精度智能型砂水分测控系统   总被引:1,自引:0,他引:1  
研究了一种高精度智能型砂水分测控系统.分析了电阻武水分传感器的工作原理,设计了一种灵敏度高、结构简单、适合在线检测的水分传感器.将传感器的电阻随水分含量变化的关系,转换成频率信号与水分含量变化关系的测量电路,使传感器可获得较宽的测量范围,同时还具有抗干扰能力强,利于远距离测量和信号传输的优点.该系统以单片机为控制核心,通过测量混砂前旧砂的含水量计算出所需加水量,根据电磁阀的流量,计算出加水时间,从而实现水分的精确控制.  相似文献   
5.
光纤连接器端面检测技术的研究   总被引:2,自引:0,他引:2  
采用一种显微干涉的光学检测系统,对光纤连接器的端面特性进行观测。在数据处理中,同时运用一阶导数的极值阈值方法和二阶导数过零来检测边缘点,然后采用最小二乘法进行数据拟合,来进行二维截面图的描述。从而检测端面的各种特性。  相似文献   
6.
提出了一种用于大面积高反物体的三维形貌测量方法。基于双色反射模型理论,提取了相机采集的条纹图像的漫反射分量,通过改进的反射分量分离算法对图像进行反射分量分离;对反射分量分离产生的图像空洞采用改进的种子填充算法进行修补;用三步相移结合质量引导算法得到连续相位,由系统标定的相位高度映射关系得到物体的高度信息。实验结果表明:所提方法实测误差约为0.23 mm,消除了93%~97%的高光像素,有效克服了反射光的干扰,对大面积反射光具有较好的稳健性。  相似文献   
7.
基于Levenberg-Marquardt算法的图像拼接   总被引:1,自引:0,他引:1  
Levenberg-Marquardt(简称LM)算法是高斯-牛顿法和梯度下降法的结合,既有高斯牛顿法的快速收敛性,也有梯度下降法的全局搜索特性.将LM算法应用于图像拼接过程中变换矩阵的参数自动优化中,通过对多个对应点的自动优化后,可以较快得到变换矩阵,从而实现图像拼接.在LM算法中,以对应点距离的平方和作为目标函数,给出此方法详细的实现过程与结果.与以灰度差平方和为目标函数相比,避免了提前采用插值算法,从而求得的M变换矩阵更精确.结果表明,该方法实现图像拼接的精度高,速度快.  相似文献   
8.
为了既可以高精度测量有突变的物体又能达到实时的目的,采用软件VC++生成双频光栅的方法,用LCD投影机直接投射到物体表面,只需采集一幅图像经过傅里叶变换便可得到相位差,还原出物体形貌。实验结果表明,该方法简单方便、精度高,可以达到实时的要求,对基于双频光栅的傅里叶变换轮廓术的发展有很大的推动作用。  相似文献   
9.
基于图像拼接和双频投影栅线法的三维形貌测量   总被引:1,自引:0,他引:1  
为解决采用光栅投影式三维轮廓术测量物体三维形貌时,出现的条纹图样的不连续性,利用计算机编程,生成由两种不同频率合成的复合光栅,将它投影到被测物体上,并将被测物体放在精密的旋转平台上,通过二次成像后对两幅图像进行图像拼接,得到清晰的被光栅调制的物体图像,再对图像进行傅里叶变换,然后采用滤波器滤出相应的高频和低频成分,利用低频光栅的相位差辅助解出高频光栅的真实相位差,从而实现物体的三维形貌重建.结果表明,本方法简单、精度高,可以成功解决有突变面形和投影时具有阴影的物体的三维形貌测量问题.  相似文献   
10.
介绍了一种利用单片机控制的大功率半导体激光驱动电源。系统采用恒流源、光功率反馈、继电保护、慢启动、慢关闭等软保护措施,实现对半导体激光器输出光功率的软调整及有效保护。同时,采用半导体温度控制技术,对半导体激光器进行恒温控制,从而实现了半导体激光器光功率稳定、可靠、准确输出。经实验证明,在0℃-40℃的环境温度下,该驱动电源可使激光器的光功率稳定度优于0.5%;温度控制精度优于±0.3℃。  相似文献   
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