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具有核壳结构的纳米颗粒由于它独特的性质已经成为目前材料科学研究的热点.本文介绍用离子注入并退火的方法制备核壳结构的纳米颗粒.Ag/Cu离子以13的剂量比先后注入到非晶SiO2中形成了Ag-Cu合金纳米颗粒.当样品在还原气氛中600℃退火后,光学吸收谱在400nm附近出现了一个新峰,透射电子显微镜(TEM)观察发现纳米颗粒中心出现亮的衬度,相应的选区电子衍射(SAED)出现了两套斑点,因而形成了Ag-Cu合金核Cu壳纳米颗粒.用Mie理论模拟了核壳结构光学吸收谱,其结果与实验符合较好. 相似文献
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Ag离子注入石英玻璃光学透射率研究 总被引:4,自引:0,他引:4
用Mevva离子源,将Ag离子注入到石英玻璃中形成纳米晶粒。离子注入的能量为90keV,剂量分别为5×1015、1×1016、3×1016、5×1016、1×1017ions/cm2。X光电子能谱(XPS)分析纳米Ag颗粒没有发生化学反应,说明Ag仍以金属态形式存在。光学透射率测试表明,吸收峰的位置在400nm,当剂量大于5×1016ions/cm2时,发现在440nm左右有一伴峰。分析表明400nm的峰来源于表面等离子体共振吸收,而440nm的伴峰是注入离子形成了少数非常大的纳米颗粒以及纳米颗粒之间相互作用引起的。样品退火后,表面等离子体共振吸收峰红移,而伴峰消失。随着退火的温度升高,峰位红移越大,说明纳米颗粒尺寸增大。 相似文献
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自从南化公司设计院一九七三年对121工程干、吸两塔采用耐酸混凝土(水玻璃混凝土,下同)设计以来,全国已有不少小硫酸厂采用。几年来的使用情况,从好到坏,都有反映,有的同志说:“用耐酸混凝土作塔衬里‘不保险’”。这种说法虽是由少数使用情况不好的厂说出来的,但影响不小,以致有不少厂为了“保险”放弃了这种较好的衬里方法。 相似文献
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我厂硫酸车间于一九七四年四月投产,规模为年产硫酸5000吨,采用南化设计院121工程图纸,投产后平均日产为18吨左右。后来对系统操作进行了全面调整,平均日产提高到22吨,但这仍无法满足农业大干快上对肥料的迫切需要。为了尽快改变这种供不应求的局面,一九七五年我厂决定对硫酸系统进行改造挖潜,由年产5000吨的生产能力改造到年产10000吨的水平。 相似文献
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2008年武汉大学加速器联机系统初步建成,200 kV离子注入机至透射电镜束线进行了运行调试,开展了气体离子注入单晶Si、GaAs、Ag纳米晶和超临界反应堆材料(C276和6XN)的原位结构研究。结果表明,样品在注入至一定剂量时发生明显多晶和非晶化,单晶Si出现非晶化的临界剂量在10~(14) cm~(-2)。C276材料经1×10~(15)cm~(-2)的Ar离子辐照后,产生尺寸3-12 nm的位错环,其密度随剂量提高而增大,至5×10~(15)cm~(-2)出现多晶,剂量超过3×10~(16) cm~(-2)出现非晶化。在加速器-电镜联机光路上安装在线RBS靶室对离子束辐照材料进行元素成分和晶格定位测试。靠近电镜端安装50 kV低能离子源,开展核材料中氦泡形成过程的原位观测。对RBS/C装置进行数字化改造,用Labview控制系统运行,目前可进行计算机控制的背散射沟道测试。 相似文献
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扫描电子显微镜问世以来,各国科学家进行了大量的研究工作以提高其性能,如光源、光学系统的优化和新型探测器的研究等改善了电镜的性能[1-2]。利用背反射电子信号进行样品表面的元素成分分析时,因受表面形貌起伏的影响,其信号强度与平均原子序数的对应关系有可能遭到破坏。利用多个探测器及改变各探测器的相对位置并对所获得的信号进行适当的处理可以抑制形貌起伏的不利影响,另外改用Robinson型探测器也可起到类似的作用。图1给出一种几乎适用于任意表面成分分布分析的新型扫描电子显微镜的工作原理示意图。场发射电子枪的阴极由ZrO尖端构… 相似文献
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扫描电子显微镜中的背散射电子信号强度与原子序数大小成正比 ,在尝试利用背散射电子信号来获取样品表面的原子序数衬度分布时 ,未经精细抛光样品表面形貌的起伏对背散射率有明显的影响 ,甚至在平均原子序数较小的区域可能会探测到对应较大原子序数的背散射电子信号。为防止这一现象的发生 ,已有一种新型的分析扫描电子显微镜问世[1,2 ] ,该电镜具有二级电磁透镜系统 ,经第一级透镜初聚的电子束再经物镜聚焦到样品表面 ,背散射电子的探测系统位于两透镜之间 ,背散射电子和入射电子经一弱磁场分开后进入探测系统 ,因此该电镜可探测 1 80°左… 相似文献
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在(0001)面的蓝宝石衬底上用低压MOCVD法生长p型GaN外延层.对p型GaN薄膜用180keV的Mn 离子注入进行磁性粒子掺杂,注入时GaN薄膜处于300℃,注入剂量分别为5.0×1015、1.0×1016和5.0×1016cm-2.对注入的样品在N2气流中进行快速热退火处理,温度为850℃,时间为30s.用超导量子干涉仪(SQUID)对样品的磁性进行了分析,在5.0×1015cm-2的注入样品中发现了较强的铁磁性;而1.0×1016和5.0×1016cm-2的Mn 离子注入样品中铁磁响应有所减弱.结合用X射线衍射(XRD)和扫描电子显微镜(SEM)对在不同剂量下Mn 注入GaN薄膜的结构、形貌和成分的分析,揭示了不同剂量磁性离子注入给GaN薄膜带来的结构、形貌和相应的铁磁性变化规律,发现只有适当的注入剂量(5.0×1015cm-2)才有利于在300℃下用180keV的Mn 注入对p型GaN薄膜进行磁性离子掺杂. 相似文献