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利用离子束进行散射分析,虽然早就有人做过,但是直到七十年代才有了真正的发展。1973年、1975年、1977年和1979年召开的四次专业性国际会议上,已经发表过大量文章。 离子束散射分析能够区分靶核的质量数,可用作定量分析。其最重要的特点是能够给出靶核浓度随着深度分布的信息,特别适用于分析轻基体材料中的重元素杂质。并且,还具有无损、直观、可靠等优点。它的可分析深度一般是从几十埃至几微米的物质近表面区域。所以,近几年来散射分析在表面分析研究中得到迅速的发展和广泛的应用。例如,在电子材料、材料科学、核能材料研究等方面,它都有很多应用。 相似文献
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本文对“常平衡随动补偿的原理、调制射线束、选频放大的方法”进行了分析计算。结果表明,这种原理和方法能够克服诸如:环境温度、压力、温度的变化,电子元件老化,市电波动等因素对测量带来的不利影响。因而,采用此法可以制成各种高精度测量的放射性同位素及射线应用仪表。 相似文献
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带电粒子瞬发核反应分析是最近十多年来发展起来的一种新的离子束分析技术,从1973年起至今已召开了5次国际会议,并发表了大量文章。 带电粒子瞬发核反应分析,是利用带电粒子束照射待测样品,使样品中待测元素发生核反应,然后测量伴随着核反应而瞬时放出的γ-射线或带电粒子,这样可以求得样品的组分、含量和深度剖面分布。它的优点是选择性强(干扰小)、灵敏度高、精确度高、非破坏性及快速。此外还可以对样品表面进行微束(约微米数量级)扫描它适于重基体中轻杂质的分析。带电粒子瞬发核反应分析的灵敏度一般为10~(14)~10~(15)at/cm~2,个别达到10~(12)at/cm~2。分析深度一般为几微米,个别达到几十微米。深度分辨率一般为0.01~0.1μm,有时达20A左右。 相似文献
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使用控制是近几年提出的新型访问控制模型,全面定义了现代访问控制模型的框架。本文结合使用控制模型提出了一种授权模型,它能在DTD层次上对XML文档进行灵活的访问控制。 相似文献
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