火花放电原子发射光谱仪分析高含量硅时校准曲线的扩展与应用

火花放电原子发射光谱仪分析高含量Si(w(Si)≥3.0%)时,其元素含量已超出了校准曲线的线性范围,导致分析值偏低。实验通过增加中低合金钢、硅钢标准样品,完善并扩展了Si校准曲线,完成了共存元素的干扰校正,拓宽了Si元素的分析范围,质量分数上限由3.14%扩展至4.16%,线性相关系数达0.99965。校准曲线扩展后重新选择标准化样品进行漂移校正,校准曲线强度比由9.41扩展至11.01。对扩展含量段的两个样品(w(Si)≥3.0%)进行精密度考察,结果的相对标准偏差(RSD,n=10)为0.43%和0.50%;对比了8个不同Si含量的样品,发现完善、扩展后校准曲线的Si测定值与认定值更相符;同时统计过程控制(SPC)控制图处于受控状态。可见校准曲线经完善、扩展后可满足工艺过程控制和成品分析要求。     

自动化检验系统的合理布局及流程规划

以马钢检测中心X-荧光自动化系统为研究对象,陈述了含铁原料、铁样、高炉渣及钢渣等试样,从铁前原料到钢渣检验的分析流程。结合生产现状分析了各类自动化系统布局及流程的合理性及拓展性,阐述荧光自动化系统在检验中的功能改造和发展方向,为自动化检验科学布局指明了方向、提供了指导。     

粉末压片-X射线荧光光谱法测定混匀矿中TFe含量及其应用

以粉末压片制样,研究确定制样条件,选择仪器最佳参数,并绘制标准工作曲线,建立X射线荧光光谱法测定混匀矿中TFe含量的检测方法（TFe的测定范围为52.0%～67.0%）。将本方法的测定结果与化学分析方法相比较,实际使用结果表明,用该方法测定混匀矿中全铁含量,测量准确度、精密度较好,所得分析结果与化学分析结果一致,能满足生产检验要求。     

中和桥设计总结

本文就中和桥的设计全过程，主要介绍总体设计思想及设计计算原则，总结设计的成功及不足。     

X射线荧光法测定锌锭中铝、铁、铅、镉含量

采用铣床制样,研究一种用X射线荧光法测定锌锭中铝、铁、铅、镉元素的含量的方法,通过大量的比对实验,确定了该方法的最佳分析条件。结果表明,该方法不仅满足了生产精度需求,更有效地解决了传统方法分析时间长,步骤繁杂的问题,并满足了企业降本增效的生产要求。