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金刚石薄膜异质外延的研究进展   总被引:3,自引:0,他引:3  
主要介绍金刚石薄膜在Si上异质外延的研究状况。综述了外延金刚石薄膜的偏压形核 ,SiC过渡层的影响及一些实验参数对外延薄膜质量的影响等 ,并论述了发展方向  相似文献   
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