滤光片及X射线二极管响应面均匀性研究

介绍了用于软X光能谱测量的滤光片及X射线二极管能量应均匀性研究。实验利用北京同步辐射装置3WIB束线,流强40－80mA的运行条件,在100－1600eV能区对滤光片及X射线二极管（XRD）作能响曲线标定。重点对C滤片及Al阴极XRD的灵敏面作能响面均匀性研究,最后给出响应面均匀性测量结果及计算分析。     

辐射加热不同材料靶的X光再发射研究

研究辐射加热不同材料再发射X光特性。实验利用星光Ⅱ三倍频激光,以10~(14)W/cm~2激光强度辐照金盘形成辐射加热源,加热不同材料,利用多种诊断设备组合,并采取时、     

小型X光二极管的研制

研制了小型X光二极管(XRD),可用于小型软X光能谱仪。小XRD与大XRD相比,体积为1／30。在“神光Ⅱ”上对小XRD进行了实验考核,结果表明：小XRD与传统的大XRD的时间响应和灵敏度基本一致．达到了预定的目标。对XRD的电路进行了分析．计算出XRD的时间响应和线性饱和电流。     

GaAs光电导探测器的双束质子改性

介绍了未改性的砷化镓光电导探测器以及经过两束不同能量的质子改性后的砷化镓探测器对X射线的响应,并对它们的输出波形与经过电子改性后的探测器的输出波形进行了比较,结果表明,经过双束质子辐照后的探测器的性能有较大的改善,双束质子改性较电子改性后的探测器有较好的性能.     

滤波差分法测量软X光谱

研究了一种测量激光等离子体发射软X光谱强度的新方法──滤波差分法。介绍了滤波差分法的基本原理,给出了滤波差分对的理论计算结果及实验测量结果,并用此方法获得了软X光谱的绝对强度,最后对测量光谱强度的误差进行了分析和估算。     

软X光谱的滤波差分测量系统

采用复合滤片法建立的软X光谱滤波差分测量系统,设计了五对匹配差分对,将滤波差分法用于激光等离子体实验测量。测量结果表明,此系统具有单色性好、反演方法简单和精度高的特点,且具有实用性。     

ROSS滤片法测量软X光谱强度

介绍了ROSS滤片差分法基本原理,给出了ROSS滤片差分对的理论设计及实际应用分对的响应函数计算结果。并用此方法获得了激光等离子体发射软X光谱的绝对强度测量值。最后对软X光谱测量值进行了误庆功分析和估算。