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研究了非制冷热成像系统功耗产生的主要原因,提出了一种具有低功耗特点的多工作温度热成像系统。从非晶硅焦平面阵列探测器噪声等效温差和探测率的计算公式入手,分析了非晶硅焦平面阵列探测器响应特性与工作温度的关系。数值分析显示,在- 40℃~60℃工作温度范围内,非晶硅焦平面阵列探测器具有一致性的响应性能,这为设计多工作温度热成像系统奠定了理论基础。对所设计的多工作温度热成像系统测试结果:在- 40℃~60℃环境温度范围内,热电稳定器的功耗小于350 mW,噪声等效温差小于120 mK.这表明该热成像系统既具有稳定的成像质量,又具有较小的系统动耗。 相似文献
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以一种火箭弹红外成像导引头位标器为研究对象,利用ANSYS建立了位标器的有限元分析模型并分析了位标器机械结构部分的可靠性,首先模拟了导引头位标器在极限温度下-10℃和50℃的热力分析,然后对位标器进行了模态分析并得到了几种固有频率,最后根据位标器的冲击要求进行了冲击响应分析,计算结果表明导引头的机械结构的可靠性满足精度要求. 相似文献
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为了定量地研究积分球出光孔亮度衰减情况与出光孔直径尺寸变化的关系,设计一套测试实验系统,用单反相机对积分球不同尺寸出光孔进行图像采集.然后通过对理想积分球及漫反射理论进行研究,并进行理论推导,得出积分球出光孔亮度衰减干扰因子FR.最后通过测试实验方法的研究,确定出一套切实可行的基于Matlab图像处理的测试实验方案,对采集到的图像分析,得出图像光斑直径方向正常灰度值的像素点数与光斑直径方向像素点数的比值FA.通过实际积分球实验测得的FA和实际积分球尺寸计算得到的FR数值比较分析,结果显示FA值均处在FR值的范围内,从而验证得出FR正确性.而FR的提出可以对积分球出光孔亮度的衰减进行定量的分析. 相似文献
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像增强器荧光屏的参数测试是研制三代像增强器的前提.现建立真空测试系统.热电子面发射源在真空中发射电子,电场加速,然后轰击荧光屏,使其发亮.利用电场瞬间拒斥轰击电子,测试荧光屏的余辉;分析电场特性,设计出合理的余辉测试装备,测试出荧光屏的余辉,为其它参数测试或其它领域的研究提供了经验. 相似文献
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亮度增益和等效背景照度是衡量像增强器性能的两个重要参数,针对这两个参数的测试要求,本文阐述像增强器亮度增益和等效背景测试仪的计算机模拟与结构设计,并利用研制的测试仪对多种型号的像增强器的亮度增益和等效背景照度进行了测试,给出并分析了测试结果。结果表明,本测试仪的计算机模拟和结构设计是合理有效的。 相似文献