单片机在雷达信号处理系统中的应用

为适应雷达对控制系统越来越高的要求,提出一种在雷达信号处理系统中应用的单片机控制系统,此系统具有抗干扰能力强,能实时控制和监控信号处理系统工作状态,并留有专用的数据总线对系统各个模块进行监测,具有极好的可调试性.     

基于边界扫描技术的集成电路测试平台设计

支持IEEE1149.1标准的边界扫描芯片的广泛应用和可测性设计(DFT)的研究,使边界扫描测试技术得到广阔的发展.我们以边界扣描测试技术为基础设计集成电路(IC)测试平台,并对许多复杂的IC进行测试.该平台不需要昂贵的仪表、设备,而是通过边界扫描芯片的特点产生并捕获测试信号,并且还具有很高的测试覆盖率.同时也根据在测试开发中遇到的问题,对可测性设计提出一些建议.     

基于“魂芯一号”的雷达信号处理机边扫设计

"魂芯一号"(BWDSP100)芯片是一款性能优越的高端DSP处理器,适用于雷达信号处理、电子对抗、精确制导武器、通信保障等领域。针对基于4片BWDSP100芯片和2片ALTERA公司的高端FPGA芯片设计的某雷达信号处理机,用边界扫描测试技术设计了TPS(Test Project Set),以验证BWDSP100芯片的可测试性。同时对该雷达信号处理机的DDR2、FLASH等外围芯片进行了测试有效性验证。经过验证,不仅BWDSP100芯片具有较好的可测试性设计,外围芯片的测试效果也很好,使得该雷达信号处理机有较高的故障覆盖率。     

基于边界扫描技术和Tcl语言的DualSRAM测试设计

集成电路（IC）的迅猛发展促进了测试技术的研究和发展,支持IEEE1149.1标准的边界扫描芯片的广泛应用,使得边界扫描测试技术日益被重视。Tcl语言是一种简明、高效、移植性强的语言,它与边界扫描技术的结合,扩展了芯片测试技术的应用,使得IC的测试更加灵活。本文以DualSRAM的测试设计为例,介绍了以边界扫描技术为基础的Tcl语言的应用,同时根据测试开发中遇到的问题,提出了一些可测性设计（DFT）的建议。