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背面减薄是制备InP基光电子芯片的一道重要工艺。晶圆被减薄后失去结构支撑,会因应力作用产生剧烈形变,翘曲度大幅提高。严重的翘曲会使芯片可靠性降低甚至失效,应对晶圆的翘曲度进行控制和矫正。文章从“损伤层-翘曲度”理论出发,实验研究了晶圆厚度、粘片方式、研磨压力、磨盘转速、磨料粒径对翘曲度的影响。根据试验结果优化工艺参量,优化后晶圆的翘曲度降低了约20%;再通过湿法腐蚀去除损伤层,矫正已产生的翘曲,使晶圆的翘曲度降低约90%。优化减薄工艺降低损伤应力与湿法腐蚀去除损伤层分别是控制和矫正晶圆翘曲度的适用方法,可使翘曲度下降至之前的10%以内。 相似文献
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结合外延材料工艺、芯片工艺及互连集成工艺具体情况,分析了AlGaN外延材料、探测器阵列芯片及倒焊芯片的均匀性特点,讨论了影响外延材料Al组分分布均匀性、芯片电阻和电容分布均匀性的各种因素。在此基础上,提出了改进器件均匀性的技术途径。利用MOCVD外延材料生长技术,生长了背照式AlGaN-pin异质结构外延材料,并利用所生长的外延材料制作了320×256元AlGaN日盲紫外焦平面阵列器件。测试所制作的器件,结果显示,其光谱响应范围为255~280nm,位于日盲波段,0V偏置时272nm峰值波长响应度大于0.16A/W(外量子效率大于72.9%),有效像元数大于99.2%,响应非均匀性小于3.36%。 相似文献
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射电天文望远镜中极化网络一般由极化器、波导同轴转换器、耦合器等几部分组成,为了获取最高限度的系统灵敏度,极化网络在射电天文低温接收机中会置于低温真空杜瓦20 K 温区,使其对接收机噪声温度的贡献降到最低。通过对极化网络的深入研究设计了一种基于隔板结构的X 波段极化器、耦合器和波导同轴转换器一体化结构。该设计既实现了极化器的线圆转换功能又实现了-30 dB 噪声耦合。测试结果表明该设计拥有良好的轴比、耦合度和驻波特性。同时一体化设计进一步减小了无源器件之间的级联,使低温低噪声放大器之前的馈源网络插入损耗进一步降低,提升了射电望远镜的接收灵敏度。 相似文献
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对ZA203—Ⅰ喷气织机BU板进行了剖析,分析了BU板出现故障的现象和原因,提出了对故障件进行国产件代换的方法。 相似文献
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针对遥感图像目标检测算法在特征融合过程中最高层信息丢失及遥感图像复杂背景难以区分的问题,提出了一个特征增强的单阶段遥感图像目标检测算法。该算法在基线单阶段对齐网络(S2A-Net)中引入残差特征增强处理策略和改进的通道注意力机制,从而保留特征融合过程中最高层信息并使网络抑制复杂背景信息。为了验证所提算法的有效性,分别在DOTA-v1.0数据集和HRSC2016数据集上进行了实验。实验结果表明,所提算法相比于S2A-Net算法,在DOTA-v1.0数据集上的平均精度提升了1.43个百分点,并在HRSC2016数据集上取得了比较有竞争力的结果。 相似文献
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背照结构的InGaAs焦平面器件,受其衬底InP的阻挡,对可见光无响应.针对宽光谱探测的应用需求,研制了 一种像元间距为25 μm、阵列规模为640×512的InGaAs焦平面探测器.通过在倒焊互连工艺后,对器件进行干法、湿法相结合的减薄抛光工艺,所得探测器阵列(PDA)芯片最终保留厚度约5 μm,实现了对400~1 700 nm光谱范围内可见光和短波红外光的同时响应,峰值探测率高于8×1012 cm·Hz1/2·W-1,峰值外量子效率超过85%,响应非均匀性优于6%,器件成像效果良好. 相似文献