正大广场:体验e时代商场新模式

位 于浦东陆家嘴金融贸易区黄金 市口的正大广场，即将成为上海最大和最前卫的世界级商城。日前，从正大广场传出信息，正大广场８楼将辟出３０００平方米的区域，来营建ｅ时代最顶尖的ＩＴ高新技术产品商业区。此商业区内将展示和销售著名品牌的手机、电脑、配件及系统集成整体解决方案。目前，此项目招商工作已正式开始。 正大广场建筑面积达２４多万平方米，集购物、餐饮、娱乐、生活艺术和休闲于一体，将汇集国内外一千多种著名品牌，商业优势非常显著。在８楼筹建的ｅ时代商业区，将融入相当浓厚的“未来时代”式的超前生活场景，其中…     

智能遥控控制芯片低功耗设计

在前人低功耗设计研究基础上,实现了智能遥控控制芯片的低功耗设计,重点从系统结构级提出了减少功耗的一些方法,如低功耗模式、降低高频时钟的活动、减少存储器的功耗、减少信号跳变等。     

基于SOC的PAGER控制芯片设计

文章讨论了PAGER控制器芯片（ZQD021）的系统设计，该控制器内部集成了FLASH，SRAM，POCSAG协议解码器和嵌入式MCU CORE。重点分析了芯片的可测性设计（DFT），内嵌FLASH设计，低功耗设计，其设计方法和思路对消费类和嵌入式控制芯片的设计有一定的借鉴意义。     

针对多时钟扫描测试的可测性设计方法

在数字集成电路设计和生产中，基于扫描的测试方法是重要的可测性设计(design-for-test)技术．在多时钟的扫描测试设计中，不同时钟域之间信号的交叉会增加测试矢量的数目，从而增加了测试的成本．采用新的可测性设计方法，在扫描测试时用多路选通器隔断时钟域之间的交叉信号，使得原来处于不同捕获时钟组的时钟被分配到相同的时钟组中，在故障覆盖率基本不变的同时，减少测试矢量，降低测试成本．经实验验证，文中新的可测性设计方法可以明显地减少测试矢量数目，而且便于在RTL级加入。     

用于低功耗设计和测试的自适应触发器

提出一种触发器结构——自适应触发器,它可以同时降低VLSI电路的工作功耗和扫描测试时的功耗,自适应触发器监视D端和Q端的逻辑电平,当两者的逻辑电平相等时,就会自动把触发器的内部时钟停在逻辑高电平;否则,触发器要跳变时,就会自动地恢复触发器的内部时钟,在触发器的跳变率较低时,自适应触发器能有效地降低触发器的功耗,同DL—DFF和时钟门控相比,自适应触发器具有不需要附加额外电路,并能同时降低电路的工作功耗和扫描测试功耗的优点。     

Modbus总线技术在复杂装备健康管理中的应用

装备健康管理是一种对复杂装备健康状态的影响因素进行全面管理的过程。状态监测则是复杂装备健康管理的重要组成部分。针对装备状态监控存在的数据传输不可靠、响应速度慢等问题,本文提出了一种基于Modbus总线技术的数据监测方案。各设备之间采用Modbus标准通用协议实现数据实时通信,将异构设备接口通信归一化。并选用组态软件实现监测软件的开发设计,解决了监测系统灵活性、通用性等问题。实际应用表明,该方案稳定可靠,开发周期短,在复杂装备健康管理领域具有很好的应用价值。     

SoC设计中嵌入存储器对ATPG的影响

在ASIC设计中，越来越多地采用了So（systems-on0a-chip）方法，同时也因为采用各种IP核和嵌入存储器，给芯片的设计和测试带来了复杂性，特别是在ATPG中这些单元对故障覆盖率有较大的影响，现在已经有一些测试嵌入存储器本身的方法，但这些方法一般不考虑嵌入存储器对周围逻辑可测性的影响，在分析了嵌入存储器对ATPG的影响后，提出了消除这些影响的RTL级的DFT方法，这种方法得到了实验的检验。     

完全RTL的故障数目预测及故障覆盖率计算

在超大规模集成电路设计过程中,门级故障仿真通常因仿真速度太慢而不能满足市场需求,因此近年来寄存器传输级(RTL)故障仿真成了一个研究热点．已有的RTL的故障模型和故障仿真方法在计算系统的故障覆盖率时,对故障数目或者加权系数的计算需要将RTL设计综合到门级．文中在信号位宽和运算符类型的基础上,提出了一种在RTL预测故障数的手段,并由此得到完全RTL的故障覆盖率计算方法．实验结果证明了该方法的有效性．     

基于神经网络的模拟电路硬故障诊断

基于直流测试只能测试电路的静态工作状态,对敏感于信号频率的元件不能作完全测试这一情况,提出了交流测试下模拟电路硬故障状态特征的提取方法,使得样本具有非常好的典型性,便于网络诊断速度的加快和准确性的提高,以及通过在典型训练样本的基础上对每一状态增加两个容差范围内随机样点作为附加训练样本点,改善了诊断系统对容差下故障的诊断能力;实验证明,该方法是有实用价值的.     

E_p≤300MeV质子-铅核核反应微观截面的理论计算

对５—３００ ＭｅＶ 能区质子与天然铅的各种反应截面进行了计算,在符合多种实验数据的基础上,预言了长寿命放射性核的累积产生截面及其随质子入射能量的变化和中子多重数。在分析实验数据的基础上,给出了中能质子引发天然铅核裂变质量分布的经验公式,计算了电荷分布,并将计算结果与实验数据进行了比较。