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1.
半实物仿真计算结果表明,CRH5型动车组四象限整流侧IGBT器件寿命长于逆变侧,机车频繁进站会降低 IGBT器件寿命.典型线路计算时,最小寿命约为780万 km.与寿命相关的测试表明,与全新同型号IGBT器件相比,运行480万km 的IGBT器件芯片及 DBC焊层超声波扫描未出现分层现象.饱和压降及键合点推力测试表明,键合线根部已经出现裂纹,导致饱和压降平均值比全新增加0.196%,IGBT芯片键合线推力均值由全新的2800g降低 到2400g,FRD芯片键合线推力均值由全新的2800g降低到2600g及2300g,退化后的测试电学参数均在额定值以内,未达到寿命失效标准.这些研究结果对寿命预测结果进行了初步的验证。 相似文献
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4.
采用冲击实验研究了不同温度固溶处理及固溶和双级时效处理对GH4151合金冲击性能的影响,采用光学显微镜、扫描电镜和透射电镜等观察了合金经不同工艺处理后的显微组织、析出相和断口形貌。结果表明:对于仅固溶处理的合金,当固溶温度低于1140℃时,其冲击韧性值的变化不大,固溶温度高于1140℃时,冲击韧性值随固溶温度的升高而增加,断裂过程以裂纹的稳定扩展区为主,断口呈韧性断裂。对于固溶时效处理的合金,当固溶温度低于1160℃时,冲击韧性值的变化也比较稳定,固溶温度高于1160℃时,冲击韧性值随固溶温度的升高而降低,断裂过程不存在裂纹的稳定扩展区,断口呈典型的沿晶脆性断裂。这主要是因为当固溶温度低于1140℃时,合金的晶粒尺寸变化不大,而在1140℃以上时晶粒尺寸明显增大;双级时效后,当固溶温度高于1160℃时,晶界上连续或不连续分布的第二相显著降低了合金的冲击韧性。 相似文献
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7.
在不同溶剂热反应条件下制备了具有自组装活性中心的金属有机分子筛Cu3(BTC)2,采用XRD和SEM等手段对所制备的Cu3(BTC)2进行了表征,并考察了其在苯甲醇氧化反应中的催化性能.结果表明,Cu3(BTC)2可有效催化苯甲醇氧化反应,在相同的反应条件下,其催化活性高于离子交换法制备的Cu/Y催化剂.Cu3(BTC)2的反应活性和稳定性与反应溶剂的选择有着密切的关系,反应后的Cu3(BTC)2虽然拓扑结构、晶体形貌发生了一定变化,但反应活性仍然保持不变,在丙酮溶剂中重复使用的Cu3(BTC)2甚至表现出高于第一次使用时的反应活性. 相似文献
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9.
在铂电极上电沉积羟基磷灰石(HAp)-聚乙烯醇(PVA)复合涂层,并将葡萄糖氧化酶(GOD)固定在羟基磷灰石HAp-PVA-Nafion复合膜,构建了高灵敏度、高选择性的葡萄糖传感器。固定在此电极上的GOD在pH 7.0的磷酸缓冲液(PBS)中展现出一对可逆性好的氧化还原峰,此电极对葡萄糖的氧化有良好的催化作用随葡萄糖浓度,在恒电位-0.92 V(相对于饱和甘汞电极)时测量溶解氧还原电流,结果显示,羟基磷灰石和Nafion良好的协同作用增强了GOD的电化学活性,促进了GOD与电极表面之间的电子转移,提高了传感器的穗定性与灵敏度,还原电流的衰减在浓度0.04-0.52 mmol dm~(-3)范围内与葡萄糖的浓度呈线性关系 相似文献
10.