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电化学氢化物发生-原子荧光法测定环境样品中的Se(Ⅳ)和Se(Ⅵ) 总被引:1,自引:0,他引:1
设计了一种新的电化学氢化物发生装置, 用于测定不同价态的硒. 通过对传统的平板电解池的改进, 设计了全新的圆盘电解池并采用螺纹密封的方式, 极大地缩短了电解池的装配时间, 提高了电解池的使用寿命和密封性能. 结合热水浴在线还原技术, 将 Se(Ⅵ)在高浓度HCl介质中120 s内还原成Se(Ⅳ), 通过电化学氢化物发生技术生成氢化物, 成功的进行硒的在线价态分析. 对各种实验参数进行了详细的研究, Se(Ⅳ) 和Se(Ⅵ)的相对标准偏差分别为2.6% 和 3.1% (n=11);Se(Ⅳ)和总硒的检出限分别为0.32和0.27 μg/L (3σ). 相似文献
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电磁感应加热与原子荧光光谱联用测定海产品中的无机汞和有机汞 总被引:1,自引:2,他引:1
研制了电磁感应加热装置和磁感应加热柱,并将其应用于有机汞的在线氧化。与冷蒸汽发生-原子荧光光谱法联用,在线测定了海产品中的无机汞和有机汞。样品溶液与K2S2O8在线混合后流经磁感应加热柱,在较低功率(15W)时快速升温将有机汞氧化为无机汞,测定总汞含量;加热柱为室温时,测定无机汞含量,二者之差为有机汞。对各种实验参数和干扰情况进行了详细研究。无机汞的检出限为0.036μg/L;样品分析精密度(RSD)为2.4%(n=11);有机汞的检出限为0.043μg/L,样品分析精密度(RSD)为3.6%(n=11)。 相似文献
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石墨管阴极电化学氢化物发生原子荧光法测定锗 总被引:6,自引:0,他引:6
使用原子吸收法中的石墨管作为电解池中的阴极,设计了一种圆柱型电解池。通过电解产生锗的氢化物,并与原子荧光法联用,测定了标准样品中Ge的含量。对各种实验参数和干扰情况进行了详细研究。方法的检出限为0-67μg/L(36);相对标准偏差(RSD)(200μg/L,n=11)为1.7%。 相似文献
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电化学氢化物发生原子荧光法测定环境样品中的锑 总被引:2,自引:0,他引:2
使用中性磷酸盐缓冲体系作为电解质,研究了锑化氢的电解生成情况. 结果发现,Sb(Ⅲ)的原子荧光光谱(AFS)响应信号强度比在酸性介质中提高了1倍,而Sb(Ⅴ)几乎没有响应信号,因此可以在此缓冲体系中进行价态分析,可消除酸性介质对电极的腐蚀,延长了电解池及电极的使用寿命,提高了信号的稳定性. 将传统的平板式电解池的螺丝密封改进为螺纹密封,使电解池安装时间从原来的20 min缩短为1 min,提高了电解池的密封性能. Sb(Ⅲ)的检出限为0.038 μg/L(3σ),相对标准偏差为3.9%(n=11). 分析了多种环境样品中的锑,结果满意. 相似文献
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本文研究了过氧化氢(H2O2)抛光液体系中金属钌的化学机械抛光行为,采用电化学分析方法和X射线光电子能谱仪(XPS)分析了氧化剂和络合剂对腐蚀效果的影响,利用原子力显微镜(AFM)观察抛光表面的微观形貌.结果表明:在过氧化氢抛光液体系中,金属钌表面钝化膜的致密度和厚度与醋酸(CH3COOH)和H2O2的浓度有关.抛光液中醋酸主要通过促进阳极反应的进行从而增强抛光液对金属钌的化学作用,CH3COOH作为络合剂比三乙醇胺(TEA)或酒石酸(C4H6O6)得到的抛光速率更高.低浓度H2O2通过增强抛光液对金属钌的化学腐蚀,抛光速率增大,较高浓度H2O2可能通过在金属表面形成较厚的氧化膜,抛光速率下降.XPS图谱说明钌片浸泡在含醋酸介质过氧化氢体系抛光液后,钌、氧原子相对含量之比约为2∶3,而且金属钌被氧化到四价和八价,这可能是因为金属钌表面生成RuO2和RuO4.抛光后的金属钌表面在5μm×5μm范围内平均粗糙度Sa由抛光前的33 nm降至6.99 nm. 相似文献
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本文通过对传统的电化学氢化物发生技术进行改进,使用中性磷酸盐缓冲体系作为电解质,研究锑化氢的电解生成情况。实验发现在磷酸盐缓冲体系中, Sb(III)的响应信号比酸性介质中提高了一倍,同时Sb(V)几乎没有响应信号,因此可以在缓冲体系中进行价态分析;同时使用中性缓冲体系消除了酸性介质对电极的腐蚀,延长了电解池及电极的使用寿命,提高了信号的稳定性;对传统的平板式电解池进行了改进,利用螺纹密封的方式代替螺丝密封,电解池安装时间从原来的20分钟缩短为1分钟,并且提高了密封性能,同时有效地解决了电解池渗漏问题。对各种实验参数进行了详细的研究,检出限为0.038μg/L (3σ),相对标准偏差为3.9%(,n=11)。利用该体系分析了多种环境样品中的锑,结果满意。 相似文献
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