基于热释电传感器的图像采集语音报警系统

随着时代的进步,出于对安全问题的考虑,越来越多的人们开始使用报警系统,但现有的报警系统往往存在一些缺陷,比如误报和报警不直观的问题等。在对OV6620及ATmega16单片机性能进行分析以后,采用OV6620CMOS传感器芯片和LH1778热释电传感器芯片对室内状况进行实时监控和图像采集,当发现室内因人体经过而产生温度变化时,热释电传感器的电平变化,单片机随即执行程序采集图像,最终获得的图像由串口输出至外围设备。与此同时单片机通过无线模块对室内的门进行加锁和进行语音报警。     

分布式电源并网对配电网电压的影响

近年来,分布式电源并网技术已经取得了很大的发展和突破,但仍然存在一系列的问题。选取了其中一个方面即分布式电源并网对电压影响的问题做出了概述,介绍了分布式电源并网的要求和DG并网对电压波动、电压偏差和电压分布的影响。     

基于模糊综合评价的兰州市地域空间结构模式界定

从人口、用地、经济和社会等方面构建兰州市地域特征分析的指标体系,利用模糊综合评价对其空间结构模式进行界定,结果与实际情况相符。界定方法可行,有效。     

一种滴定测试三价铁盐含量的优化方法

本文提出了一种滴定测试三价铁盐含量的优化方法:增大待测样品的称样重量,并采用“先溶解再称量”替换传统“先称量后溶解”的前处理方法;避免了以往直接称量、溶解、EDTA滴定等测试过程中出现的测试结果波动大、数值准确度低的现象,对工业生产、节约成本有着重要的作用.本方法操作简便,结果更准确可靠,测试原理极具实践参考价值.     

散粒噪声用于纳米电子器件与结构的量子效应表征

论述了纳米电子器件与结构中散粒噪声的产生机理和影响因素,表明散粒噪声与输运过程密切相关,按照噪声功率谱的幅值大小将散粒噪声分为泊松散粒噪声、亚泊松散粒噪声和超泊松散粒噪声四类。将散粒噪声的这些规律应用于纳米电子器件和结构,可表征不同器件与结构中的量子效应。利用散粒噪声已经成功检测到无序导线中的开放通道与量子点混沌腔中的波动性,测量出超导体与分数量子霍尔效应中的准粒子电荷。将散粒噪声用于检测纠缠态对量子计算具有重要的意义,自旋相干输运的检测是自旋电子学的重要研究课题。     

基于布里渊散射的海水参数测量反演算法研究

海洋温度和盐度是重要的海洋环境参数,对了解海洋性质、生物多样性具有重要作用。本文基于碘分子吸收池的边缘探测技术,将携带有温度信息的布里渊散射光分为三束,这三束光分别通过三个压强不同的碘分子吸收池,形成三个探测通道,得到两个信号的强度比值信息;之后利用迭代算法即可同时反演出被测区域的温度和盐度信息。采用探测器输出信号强度比值的形式能有效抑制激光器光强抖动带来的影响。为将测温误差控制在0.2 K以内,所提算法对探测器输出强度比值的随机抖动程度为1.3‰。本技术路线具有不受入射角影响、测量速度快、无需事先知晓盐度信息等优势,有望应用于机载、星载等移动平台上。     

高光谱分辨率的海洋碳颗粒剖面探测系统仿真

海洋是全球碳循环过程中的重要环节,从浮游植物光合作用开始,碳在海洋中沿食物链传递,以颗粒有机碳(POC)形式存在。对海洋中颗粒有机碳含量的探测,将对海洋碳汇能力的评估起到重要作用。在干净大洋水体中,激光雷达可根据浮游植物引起的光学性质变化实现剖面信息的探测,因此对基于高光谱分辨率技术的海洋颗粒有机碳浓度剖面探测系统性能进行了仿真分析。利用激光雷达方程对探测系统在大洋水体的最大探测深度进行了仿真;利用碘分子吸收池作滤波器,并结合大洋水体的透射窗口和激光器的工程设计,分析了不同载荷平台下探测系统的最佳工作波长。仿真结果表明,在满足单次探测系统信噪比为5的探测要求时,大洋水体50 dB动态范围下的探测深度平均在80 m;船载、机载平台探测系统最佳工作波长为532.245 1 nm和532.292 8 nm。     

工控机在中小化工企业的应用

阐述了工控机的主要特点。将工控机系统与ＤＣＳ系统、ＰＬＣ及目前自控系统使用最多的电Ⅲ型仪表的性能分别作了分析和对比,并根据中小化工企业的具体情况,得出在中小化工企业自控系统使用工控系统使用工控机比较合理结论。     

GH4169合金涡轮盘锻造成型的数值模拟和分析

利用Gleeble-3500型热模拟试验机研究GH4169合金在不同温度和变形速度下的热变形行为,建立该合金的高温流变应力模型.用Deform-3D对GH4169镍基高温合金涡轮盘锻造成型过程进行数值模拟,比较不同变形速度和不同变形温度下工件的变形行为.结果表明:相对于变形速度,变形温度对锻件性能的影响更加明显;较高的变形温度有利于材料的动态恢复和再结晶,使组织均匀,但过高的终锻温度会使晶粒尺寸变大,进而影响涡轮盘的机械性能.     

光电探测器的电噪声及其应用

电噪声检测方法正在成为一种无损的电子器件可靠性表征手段,而人们对其在光电探测器方面应用的研究还较少.本文在总结光电探测器电噪声类型及产生机理的基础上,分析了光电探测器与电噪声相关的各项性能参数.电噪声不仅是影响光电探测器性能的重要物理量,而且与光电探测器材料缺陷、界面缺陷及深能级陷阱存在相关性.构造的适当噪声参量可以表征光电探测器中的上述缺陷.与电噪声相关的缺陷往往是导致器件失效的因素,借鉴电噪声用于金属-氧化物-半导体场效应晶体管质量和可靠性表征的方法,本文提出了电噪声在表征光电探测器质量和可靠性方面的应用.