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本文介绍了测量介质薄膜消光系数K的衰减全反射方法。计算表明,K可测至5×10~(-5)。它适用于介质薄膜的弱吸收测量。氧化物薄膜,如氧化锆、氧化钛等实测的消光系数为K=2×10~(-4)。本文还讨论了影响测量灵敏度、精度的因素。由测得的S—和P—偏振光的反射率Rs和Rp同时确定薄膜的消光系数K和厚度d。 相似文献
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一、引言近年来Sossi提出了一种光学薄膜设计的综合分析方法。这个方法考虑垂直入射的无吸收薄膜系统,对于预先指定的任意目标反射率曲线,可以设计出达到要求的薄膜结构。方法使用方便,有很大的普适性,因此受到国内外光学薄膜专家们的重视。鉴于国内这方面的资料不多,而且又涉及不少数学推导,为了便于大家了解这方面的工 相似文献
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提出了一种改进的诱导透射滤光片的设计方法,使对于任意厚度的金属,均能得到最佳匹配的出射导纳.采用两个非四分之一波长层来代替传统设计方法中的单间隔层,其厚度可以通过导纳图解得.通过改变两个间隔层的材料,可以对滤光片的带宽进行调整.与传统方法相比,用改进的方法设计的滤光片达到了最大势透射率,具有更高的峰值透射率. 相似文献
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透明薄膜光学常数的椭圆偏振测量 总被引:1,自引:1,他引:1
本文叙述了用椭园偏振法测定透明薄膜厚度和折射率的原理,提供了一个计算程序。实验结果表明:折射率和厚度的测量误差分别小于0.5%和10A。 相似文献
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在美国进修期间曾参加了Macleod教授领导的薄膜实验室的一部分研究工作,有机会参观了一些公司和学校,也参加了二次全国性的学术会议,认识了一些在薄膜界研究工作十分活跃的学者、专家,对国外光学薄膜技术的发展有了一个初步的印象。下面就我的认识谈一谈肤浅的看法。首先,在国外,光学薄膜的商品生产、发展研究和偏重于基础性的理论研究这三个层次是可以感觉得到的。目前光谱范围从紫外1200(?)到红外5.5μm甚至更远,各类滤光片已有系列的商品生产;光学薄膜的制造基本上摆脱了依赖手艺、技巧和碰运气的状态,已进入了工业规模的生产。参观Baush&Lomb公司的 相似文献