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本文提出一种用于空间自由曲面测量的多信息输出位移传感器.该传感器结构简单,传感器的输出量与被测量成线性关系,不但能给出位移信息、倾斜角度,还能给出测量光的强弱信息. 相似文献
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KDP晶体作为优质的非线性光学材料,具有脆性高、对温度敏感等特性,在单点金刚石切削(SPDT)超精密加工中,微小的温度和应力变化有可能对晶体造成损伤,但是一直未有相关实验报道.本文采用红外热成像仪对SPDT加工过程进行监测,结合Raman光谱技术,研究KDP晶体在SPDT加工前后表面温度和应力的分布变化.大尺寸KDP晶体经过快速微区切削后,在给定的切削工艺条件下,测量出切削部分最高瞬态温度比附近未切削部分高出将近8℃.通过Raman测量,显示切削后晶体表面存在残余拉应力.结合热力耦合模拟仿真,进一步分析了SPDT加工过程动态切削温度对晶体质量的影响,为优化加工参数提供依据. 相似文献
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使用接触角测量和电化学技术研究了三相线界面区(TPB)宽度在分散液膜下金属腐蚀过程中的作用.研究发现,阴极极限电流和腐蚀电流密度随TPB宽度增加而线性增大,表明TPB宽度对气/液/固多相体系腐蚀过程具有重要影响.因此,可根据TPB宽度评价分散液膜厚度对大气腐蚀速率之影响. 相似文献
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材料的载流子浓度和迁移率是影响器件性能的关键因素, 变温Hall测试结果证明杂质掺杂AlGaN中的载流子浓度和迁移率随温度 降低而减小.然而极化诱导掺杂的载流子浓度和迁移率不受温度变化的影响.以准绝缘 的GaN体材料作为衬底, 在组分分层渐变的AlGaN中实现的极化诱导掺杂浓度 仅仅在1017 cm-3数量级甚至更低. 本研究采用载流子浓度为1016 cm-3量级的非有意n型掺杂GaN模板为衬底, 用极化诱导掺杂技术在分子束外延生长的AlGaN薄膜材料中实现了高 达1020 cm-3 量级的超高电子浓度. 准绝缘的体材GaN半导体作衬底时, 只有表面自由电子作为极化掺杂源, 而非有意掺杂的GaN模板衬底除了提供表面自由电子外,还能为极化电场 提供更多的自由电子"源", 从而实现超高载流子浓度的n型掺杂. 相似文献
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本文提出用三相线界面区参数描述液相分散程度,研究了三相线界面区阴极过程特征,建立三相线界面区阴极过程模型.并探讨了液相覆盖区阴极极限电流和三相线区状态的相关性,证实了模型计算与实验数据一致性.进而用三相线界面区阴极过程模型分析液相分散程度对大气以及砂土体系腐蚀行为的影响. 相似文献
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有机涂层失效过程的电化学阻抗和电位分布响应特征 总被引:5,自引:0,他引:5
结合使用电化学阻抗谱(EIS)和扫描Kelvin探针(SKP)技术研究了在质量分数为3.5%的NaCl溶液中的铁基有机涂层劣化过程特征. 结果表明, 根据EIS和SKP的响应特征, 可将涂层劣化过程分为3个主要阶段: (Ⅰ) 涂层渗水阶段. 此时, 涂层渗水阶段的EIS阻抗持续减小, 但保持单容抗弧特征, SKP特征是电位持续降低, 但分布保持均匀; (Ⅱ) 基底金属腐蚀发生阶段. 此时, EIS阻抗快速下降, 并产生第二时间常数; SKP特征为表面电位差增大; (Ⅲ) 基底金属腐蚀发展与涂层失效阶段. 此时, EIS出现扩散尾, SKP电位差保持较大数值. 实验结果表明, 在研究有机涂层劣化过程中, EIS和SKP的结合使用能够互相补充完善, 获得涂层劣化过程中更为准确\, 可靠的变化信息. 相似文献
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氯化钠溶液中铜丝尺寸效应对腐蚀行为的影响 总被引:1,自引:0,他引:1
为了研究半径变化对铜丝腐蚀行为的影响, 通过极化曲线和交流阻抗测试方法研究了半径为0.04-0.82 mm的铜丝在自然通气的0.5 mol·L-1 NaCl(pH=7.4)溶液中的腐蚀行为. 结果表明, 当铜丝半径小于氧的扩散层厚度(0.56 mm)时, 随着半径减少, 非线性扩散的存在加速了电化学反应的传质过程, 其影响由慢到快迅速增大, 使得受扩散过程控制的阴、阳极反应速率增大, 铜丝的腐蚀电流密度显著增加. 对铂丝、不锈钢丝的氧阴极还原反应过程研究也得到了类似的反应特征. 上述现象表明铜丝腐蚀行为的尺寸效应具有一定的普遍性. 相似文献
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研究和开发具有双重和多重刺激响应型智能高分子材料已成为一个重要的发展方向。本文详细地综述了我们近年来在基于聚(N-异丙基丙烯酰胺)(PNIPAM)和β-环糊精(β-CD)的复合智能线型高分子、复合智能微球和复合智能膜方面的研究进展。不同形式的复合智能材料均采用相同的反应机理制备。综述了制备工艺条件、共聚单体比例、接枝率、客体分子种类和浓度等因素对于不同形式复合智能材料的温度响应性和分子识别特性的影响规律,并对复合智能膜在亲合分离、控制释放和手性拆分等方面的应用进行了介绍。评述了分子识别与温度响应复合智能材料的研究意义和发展方向,并对其应用前景进行了展望。 相似文献
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阐述了用于激光印字机、具有倾斜校正作用的镯面f-θ物镜的激光扫描系统的设计,有效地消除了偏转反射面的倾斜引起的扫描线错位。提出了确定系统主要参数的原则,分析了准直物镜、柱面镜、f-θ物镜、多面棱体转镜等部件的设计问题 相似文献
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