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分别采用口模直径为50,75 mm的吹膜机制得高密度聚乙烯薄膜产品DN 50,DN 75,考察了口模直径对薄膜性能的影响。结果表明:DN 50薄膜的拉伸强度、横向撕裂强度、横向断裂标称值、落标冲击质量均高于DN 75薄膜;但DN 50薄膜的雾度、纵向撕裂强度、纵向断裂标称值均低于DN 75薄膜;相同条件下制得的薄膜,随着吹胀比的增大,其雾度、横向拉伸强度、纵向撕裂强度、纵向断裂标称值增加,落标冲击质量降低;相同吹胀比下,DN 50薄膜的结晶度与DN 75相当。 相似文献
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采用Material Studios对二氧化硅形成的三种晶面进行计算,并模拟甲基铝氧烷(MAO)在不同晶面产生的吸附行为。结果表明,当形成不同的晶面时,二氧化硅晶体的带宽变宽,表明频带中电子的有效质量越小,非局域性越大,并且频带的原子轨道扩展越强。MAO在SiO_2(100)面吸附形成的带隙为0.016eV,在Si(110)面吸附形成的带隙为0.086eV,而在SiO_2(111)面形成的带隙为0.180eV,表明MAO在SiO_2(111)面产生的吸附最强。MAO在SiO_2(111)形成的吸附行为与自由羟基形成映衬,而自由羟基的减少是由桥连羟基随机缩合反应导致。 相似文献
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