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采用水热法成功的制得了不同形貌的CaMoO4:Eu3+微纳米荧光体。实验结果表明,溶液的pH值在控制产物形貌上起了决定性的作用。用X射线粉末衍射(XRD)、场发射扫描电镜(FE—SEM)和荧光光谱(PL)等分析手段研究了荧光体的结构和光致发光性能。结果表明,CaMoO4:Eu3+荧光体的激发光谱由两部分组成:1个宽的激发带(240~360nm)和属于Eu3+的f—f跃迁的锐线谱(395nm、465nm),它的发射光谱只出现常见的2个发射峰:592nm(5D0→F1)、615nm(5D0→7F2),中5D0→7F2跃迁发射峰强度明显高于5D0→7F1跃迁发射峰强度,这表明Eu3+在CaMoO4基质中处于无反演中心或偏离反演中心的格位上。本文还对造成发射峰强度变化的原因进行了分析,认为影响发射峰强度的原因有两个:表面积和对称性,材料的表面积越大,发光的猝灭越严重,荧光发射越弱;材料的结构对称性越差,跃迁戒律打破地越彻底,荧光发射越强。  相似文献   
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