火花源质谱法定量分析岩石样品

叙述了一种定量分析岩石中微量元素的火花源质谱法。大约10～25毫克绝缘粉末样品直接压在T型电极上。在选定的分析条件下进行单曝光摄谱。用AGV—1做标准样品,计算相对灵敏度因子。此方法可分析24个元素。相对标准偏差为±20％。做了地幔和月岩等样品分析。     

同位素稀释-火花源质谱法定量分析植物样品

火花源质谱法具有灵敏度高,能同时测定多种痕量元素等特点,在国民经济和科学研究部门皆有应用。近年来建立了一种新的定量分析方法:多元素同位素稀释-火花源质谱法(MID-SSMS)。此法优点是不需标准样品,同位素丰度比的测定值很少受实验参数的影响,感光板乳剂灵敏度不均匀性的影响较小。     

化学分离—火花源质谱法测定高纯氧化钪中杂质元素

利用Ｓｃ＾３＋与ＳＯ＾２－４形成络阴离子后强烈吸附在强碱性阴离子交换树脂上的性质，分离掉大部分基体钪后，留下一小部分钪作基体。定量加入内标，利用火花源介谱单曝光法测定杂质元素。