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1.
利用分子束技术改变甲烷的平动能E_k来研究E_k及其法向分量E_n对甲烷在Ni表面及La薄膜上激活解离吸附的影响。对CH_4/Ni及CH_4/La系统, 当甲烷的平动能E_k分别低于58.5 kJ·mol~(-1)及52.3 kJ·mol~(-1)时, 没观察到甲烷的解离吸附。当甲烷的平动能超过此阈值时, 即对CH_4/Ni系统, 当Ek=58.5增至63.8 kJ·mol~(-1)时, 初始沾着几率s_0由0至0.54线性增加; 对CH_4/La系统, 当E_k=52.3增至63.8 kJ·mol~(-1)时, S_0由0至0.49线性增加。这些结果表明, 两个系统的化学吸附是不经过前趋态的直接化学吸附。最后求出CH_4/Ni, CH_4/La系统的表观活化能分别为46.8 kJ·mol~(-1)和38.1 kJ·mol~(-1)。  相似文献   
2.
用分子束技术研究CO在Pd上氧化   总被引:1,自引:1,他引:0  
  相似文献   
3.
本文用热脱附谱(TDS)与分子束张弛谱(MBRS)方法对NO在Pd(poly)表面上吸附与脱附动力学进行了研究. 对不同表面温度及不同调制频率下分子束张弛谱的实验结果需用三种不同的模型(简单的、粘着系数与复盖度有关的及分支过程的吸脱附模型)来解释.与实验数据拟合所得表征两种不同吸附态的动力学参数为: E_(1d)=104.2±2.7 kmol~(-1), v_(1d)=10~(13.5±0.9)S~(-1) E_2d=74.4±0.8 kJ mol~(-1), v~(2d)=10~(10.3±0.2)S~(-1)最后对非常态(第二吸附态)的机制进行了研究与讨论, 研究表明NO部分分解产生的氧吸附在表面是引起非常态的原因。  相似文献   
4.
用光电子谱与分子束技术研究Ni/C的加氢反应   总被引:2,自引:0,他引:2  
  相似文献   
5.
分子束—表面散射装置   总被引:1,自引:0,他引:1  
  相似文献   
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