关于回收率的计算公式

分析方法的回收率的计算公式,通常有两种形式: K_1=(A-B)/C×100％ (1)式中,A:加入标准物质的样品测得量,B:样品中该物质的测得量,C:加入的标准物质量。 K_2=A/(B+C)×100％ (2)式中,A,C的含义同上,B:样品中该物质的“真值”。分析方法的回收率K,可定义为:被测元素的测得量与其理论真值之比,以百分数表示。 K=X/μ×100％ (3) 据此,式(1)中A-B是C的测得量,或称     

关于DDVV型不等式的综述（英文）

本文对DDVV型不等式的历史和近期发展作了一个综述.     

利用声波干涉抑制旋转式压缩机的辐射噪声

压缩机是制冷设备的主要噪声源之一,其辐射噪声的抑制很有必要.理论分析了两列声波在自由场和管道中传播特性,证实了在管道中的两列声波能够产生有效干涉从而降低声压幅值.将压缩机储液器内的双管吸气改为了单吸气,数值分析表明了改进后壳体辐射噪声得到了明显抑制.声学实验验证了数值计算结果和理论分析,单吸气压缩机总声压级降低了约1.2dB(A).     

电子工艺实训线上线下混合教学模式的探索

在新工科和信息化的背景下，针对传统电子工艺实习教学中存在的教学内容单一、效率低、缺乏针对性、缺乏自主学习途径等问题，制定了电子工艺教学改革目标，提出电子工艺实训线上线下混合教学模式，根据混合教学特点制作课件、微视频、习题，围绕课前、课中、课后三个教学阶段展开实验课程教学。该模式的应用经验证明能有效调动学生对电子工艺的学习兴趣和提升实践能力，帮助教师数据化把握教学质量，取得良好教学效果，能为相关实践教学提供一定参考。     

High Performance Long Wavelength Superlattice Photodetectors Based on Be Doped Absorber Region

The effect of Be doping on the quantum efficiency and the dark current of InAs/GaSb long-wavelength infrared superlattice photodetectors grown by molecular-beam epitaxy on GaSb substrates are reported. A significant improvement of quantum efficiency （QE） with p-type doping is demonstrated. Our results show that Be doping level at 2.5 × 10^15 cm^3 gives the highest quantum efficiency of product 28%. We also demonstrate that the increased QE is not only resulted from the longer minority carrier diffusion length, but also the p-n junction location change. Finally, the result also shows that the sample with a doping density of 2,5 × 10^15 cm^3 has the largest D＊ as 8.68 × 10^10 cm.Hz^l/2.W^-1, which is almost five times D＊ of the non-intentionally doped one.     

双样分析精密度的表示方法和评价

双样分析精密度有多种表达式。本文对准偏差，平均偏差，极差及其应用范围作一简述。使用表达式Ｒ＝Ａ－Ｂ＜２．４８Ｒ作为判据，可以简单和有效地确定常规分析中重复性精密度是否符合要求，重复性精密度的定量定义见中华人民共和国国家标准ＧＢ－３３５８－８２。     

液相色谱响应因子控制图在标准物质质量控制中的应用

本文拟通过液相色谱中标准溶液的响应因子绘制平均值-极差控制图,监控标准物质的稳定性和有效性,实现对标准物质质量控制,进而保证分析结果的准确性。     

神奇读心术并不神奇

"吉普赛人祖传的神奇读心术.它能测算出你的内心感应"真的那么神奇吗?规则:任意选择一个两位数(或者说,从10～99之间任意选择一个数),把这个数的十位与个位相加,再把任意选择的数减去这个和.例如:你选的数是56,然后5+6=11,然后     

一种基于偏振光干涉的直线度测量系统

介绍了一种基于偏振光干涉的直线度测量系统,该系统由固定部分和活动部分组成。测量时,活动部分固定在被测要素上。被测要素的直线度变化将导致两线偏振光相位的变化。通过计量干涉条纹即可得到直线度的变化结果。实验显示本测量系统具有10nm的分辨率,在20mm的测量范围内误差≤0.5μm,提高了分辨率和测量精度。