只用一个参比标样的X射线荧光光谱分析的经验系数法

前文曾推导出以表观活度系数法的参数β_(ij)和m_(ij)来表达的经验系数表达式,并利用这些表达式计算了化学成分。然而上述计算要求计算对纯元素的相对强度。本文在前文基础上,进一步推导出只用一个参比标样“a”的经验系数表达式: 利用上述表达式,仅需制备一个参比标样便可进行经验系数法的计算,这便大大简化了实验手续。为此,用BASIC语言编制了专用迭代程序。计算结果表明,与化学分析结果符合较好。     

X射线荧光光谱分析中的Alpha系数转换

在X射线荧光光谱分析中,目前已普遍使用Alpha系数对基体效应进行数学校正。本文根据等效波长法计算理论Alpha系数的基本公式,导出了Alpha系数的转换公式。应用这些公式可以将消去项不同、熔剂项不同、稀释比项不同的理论Alpha系数(指熔融氧化物系统)。按用户的要求进行转换,可将一张Alpha系数表转换成几张,计算简便,转换Alpha系数应用于分析,结果令人满意。     

X射线荧光光谱分析中理论α系数的快速计算

在X射线荧光光谱分析中,采用理论α系数对基体效应进行校正已被人们所重视,因其具有所需标样少、分析范围广、通用性强、手续简便等优点。笔者先假设若干组二元体系用NLRXRF程序计算理论相对强度,再由Lachance-Traill模式求得基本α系数,进而推算混合α系数和修正α系数。本文对地质岩石样品中硅酸盐系列的理论α系数作了计算,取得了满意的结果。一、理论α系数的计算     

NRLXRF程序:在X射线荧光光谱分析中计算理论α系数的应用

本文对NRLXRF程序进行了开发应用,利用该程序具有计算全部组分都已定义的任何样品的理论X射线相对强度的功能,使该程序在a NIVAC1100/10计算机上运行后,先计算出给定组分的理论相对强度(设定多组二元体系),然后利用Lachance数学校正模型推出的计算公式计算基本α系数、混合α和修正α系数。本文对地质岩石样品中硅酸盐系列的理论α系数作了计算,取得了较满意的结果。     

理论α系数中有关消去项的定义、转换、选择和应用的几点讨论

一、引言De Jongh 于1973年发表了“ALPHAS”计算程序,从 Shiraiwa 的公式出发,提出了α系数的理论计算方法,继后发表了某些理论α系数表。Lachance在文献中详细论述了α系数家族,对理论α系数作了各种定义和区别,1982年来华讲学中也发表了他计算的理论α系数表。De Jongh 和 Lachance 在计算中均引入了一个消去项(Lachance 称平衡项)的概念。若在计算理论α系数时,选择不同的消去项,计算出的理论α系数值是不同的,这就涉及到消去项的定义,     

RIGAKU理论基体校正系数的修正计算及其在建材非金属矿产地质样品X-射线荧光光谱分析中的应用

本文认为RIGAKU理论基体校正系数在熔融样品中对基体效应校正效果不佳的原因是在计算中没有考虑到烧失量的影响。为此,提出了修正计算方法和计算了新的校正系数;并在建材非金属矿产地质样品XRF分析中应用,提高了分析数据的准确度,获得了满意的结果。     

X射线荧光光谱测定地质岩石样品中的痕量元素铷,锶和锆——二次基体校正法和两步背景校正法的应用

本文提出了一种用X射线荧光光谱测定地质岩石样品中的痕量元素铷,锶和锆的方法。为了能获得基体校正和背景校正的最佳结果,采用了二次基体校正法(用康普顿散射线和理论α系数)和两步背景校正法。实验结果令人满意。     

X射线荧光光谱分析JN方程中α系数的计算、转换和应用

De Jongh(1973)曾发表了用于JN方程的理论α系数的“ALPHAS”计算程序。根据该程序原理,本文先讨论了理论α系数的计算过程,然后导出理论α系数的转换公式。应用导出的公式,消去项不同的理论α系数能从一种形式转换到另一种形式。JN方程提供了消去项能任意选择的优点,e等于i作为特例可导出LT方程,正是由于不同消去项的理论α系数转换公式的导出,用在JN方程和LT方程中的理论α系数可以作相互转换。本文对理论α系数的应用也作了简单讨论。