美国研究人员关注分子规模集成电路

为了制作比以前的体积更小的芯片,美国工业界和大学的科学家们都正在关注新一代集成电路的封装技术。 据美国惠普公司(HP)和洛杉矶加洲大学(UCLA)的研究人员称,他们已获得可能导致生     

校准箱的基本结构和应用

简要地介绍了CARIA校准箱的基本构成和应用，并给出了该校准箱和荷兰NLR校准箱的一些比较。在这个校准箱中、推力和流量的测量精确度可分别达到0．2％和0．3％。     

机载电子设备测试方舱的研究

本文根据ＩＥＥＥ－４８８总线、测量仪器和计算机组成的自动测试系统的结构，研究了对机载电子设备实现自动测试及故障实时自动诊断的自动测试系统，以及主要由自动测试系统组成的机载电子设备测试方舱。该方舱主要用于内、外场对机载电子设备的测试、校准、定检、故障诊断及恢复。     

无压浸渗SiCp/Al复合材料干摩擦磨损性能研究

采用无压浸渗法制备了不同SiC颗粒体积分数以及不同SiC颗粒粒度的Al基复合材料.以硬质合金(80%WC 20%Co)为对摩试样进行了干摩擦试验,研究了颗粒体积分数(15%,25%,35%,45%,55%)、颗粒粒度(110μm,63μm,45μm)以及载荷(196N,392N)对SiCp/Al复合材料干摩擦磨损性能的影响.采用SEM和EDS分析了铝合金基体、复合材料的磨损表面及磨损机理.研究结果表明,颗粒体积分数在15%～35%之间时,复合材料的耐磨性明显优于铝合金基体.载荷为196N时,铝合金的磨损率是15%,25%,35%SiCp(110μm)/Al复合材料的2.16,2.76,2.07倍.SiCp/Al复合材料的磨损率随着颗粒粒度的增加、载荷的减小而降低.SiC颗粒的体积分数对铝基复合材料的磨损率和磨损机制有显著影响:SiC颗粒体积分数存在一个最佳值(25%),此时复合材料的磨损率最小,耐磨性能最好.当体积分数小于25%时,复合材料磨损率随着体积分数的增加而下降,磨损机制以磨粒磨损为主,而当体积分数大于25%时,复合材料磨损率随着体积分数的增加而上升,磨损机制以表层剥落磨损为主,同时伴有磨粒磨损.     

基于离散误差扩张系统的舰载机着舰最优控制

舰载机着舰对控制系统的响应能力、鲁棒性能等要求很高。已有文献未考虑着舰控制的离散采样等问题,而实际上离散采样对系统的控制性能影响较大。本文对离散线性系统进行了误差状态量的扩张,建立误差系统,并用于离散采样下的着舰最优控制器设计。仿真结果显示,系统在初始高度偏差纠正、舰尾流抑制、抗模型摄动等方面的控制效果很好,并且其稳态精度、动态特性和鲁棒性能都远强于PID控制。着舰反区效应和升降舵直接力效应,会各自让舰载机动力学有2个非最小相位零点,最优控制方法能消除这2个零点,而PID控制只能消除前一个零点。     

多属性决策的范数法

根据多属性决策的特点及向量范数的物理意义,提出多属性决策的范数法,并对该方法进行了分析,最后,给出一示例说明该方法的应用.     

基于AHP与D-S理论的辐射源识别技术

深入研究了基于层次分析与证据理论的辐射源识别技术.首先针对属性测度识别方法中权重获取困难的问题,提出利用层次分析法获取多参数权重的思想,给出权重具体计算步骤,同时简要回顾属性测度识别方法的原理.在此基础上,应用D.S证据理论进行多传感器信息融合,给出识别算法和模型.仿真对比实验表明,提出的辐射源识别技术是实用有效的,其下确识别率较高.     

基于光电引导的全天候自动着舰模式研究

舰载机成功着舰的关键之一是提高引导系统的精度.分析了一种新型高精度多传感器光电引导系统的引导机理及性能特点,研究了光电引导全自动着舰的工作模式及其转换问题,提出了一种改进型全天候自动着舰引导系统(AWACLS)方案,进一步扩展了舰载机全天候着舰手段.该项研究将为此新型多传感器光电引导系统上舰提供理论支持.     

调频连续波SAR成像算法研究

机载遥感微波成像雷达在地球观测特别是在城市应用中起着非常重要的作用,现在人们对体积小、重量轻、成本效益高、分辨率高的成像雷达越来越关注。调频连续波(FM-CW)技术和SAR相结合的调频连续波合成孔径雷达应运而生。论文详细分析了FM-CW SAR的成像过程,提出了去除相位残余的算法,并给出仿真结果。通过仿真可以看出,调频连续波合成孔径雷达具有较好的空间分辨力。     

模块化开放式航空电子系统架构标准研究

国外对开放式系统架构（OSA）概念的探索至今已有40多年。美国国防部模块化开放式系统方法（MOSA）正是建立在OSA概念之上,综合了采办和工程方法,来实现低成本、优化和快速能力升级的武器系统灵活开发。本文将集中讨论MOSA构建方法及其开放式架构的最佳实践,包括开放式任务系统、未来机载能力环境和传感器开放式系统架构。最后,本文讨论了MOSA在开放式架构上开展的工作及其挑战,以期对我国在航空电子OSA标准研究和实践上有所裨益。