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某型固体继电器储存性能退化规律研究 总被引:2,自引:2,他引:0
选用某型固体继电器在A、B、c、D等4地开展了为期131个月的库房储存试验,跟踪测试了其性能参数。应用F-检验和T-检验对其性能参数的测试数据进行了分析研究,结果表明储存131个月后,输入电流和输出接通电阻在4地有显著性的变化。通过研究4地试验样品性能参数的退化量,结果表明所有性能参数中输出接通电阻的退化量最大;4地相比,C地试验样品的输出接通电阻的退化量是最大的,A地试验样品的输出接通电阻的退化量是最小的。因此,A地最适合该型固体继电器的储存。 相似文献
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本文通过分析复杂电子系统的设计特点及其对RMS的需求,借鉴国外先进成功经验,针对复杂电子系统各层次产品特点及其对传统RMS技术的挑战,提出复杂电子系统可靠性整体解决方案的思路,以抛砖引玉。 相似文献
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