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在离子束与物质的相互作用的基础上建立起来的背散射谱学,近十多年来在理论和应用两方面都得到了很大的发展。背散射技术是现代材料科学中的无损伤探测的重要手段。本文对背散射谱学的基本概念和理论、实验方法和分辨率作了综合性的阐述,同时对此项技术在膜的厚度的测定、杂质 相似文献
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潘传康 《南昌大学学报(工科版)》1980,2(3):1
<正> 本文对箱粒子、谐振子和单电子原子的经典力学的和量子力学的不确定性进行比较。得出在量子数很大或h→0的极限情况下,量子的结果化为经典的结果。导出经典的测不准原理,并与量子理论类比,指出在另点运动和测不准原理之间的一个可能的关系。 相似文献
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本文研究了在MOCVD系统上生长的ZnSe单晶膜的光致发光特性,观察到77K下自由激子发射,束缚激子发射,施主受主对发射及其声子伴线。Raman背散射测量表明ZnSe LO声子能量31mev。 相似文献
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