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工业技术
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1987年
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1.
表面反射焦散线法在金属试样K_I测定上适用性的研究
涂卫真
尹志清
许典煌
管大椿
《北京工业大学学报》
1987,(2)
用经强化处理的40Cr钢材作试样,考察表面反射焦散线法对于测定一定厚度金属断裂试样K_Ⅰ的适用性。实验证明,对不同厚度的试样,为了得到正确的K_Ⅰ值,必须使r_0/t≥0.5。又用反散全息方法测定出裂尖附近的离面位移场,用三次样条函数法求得共偏导数场,进一步证实了上述结论。
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