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磁控溅射制备In2O3-SnO2薄膜与分析 总被引:5,自引:1,他引:5
选择In2LO3与SnO2质量比11的靶材为溅射源,采用磁控溅射法沉积了ITO薄膜,讨论了溅射氩气压强、氧流量、基体温度对薄膜透射率和方阻的影响,深入分析了其机理.研究结果表明溅射时采用低Ar压强更有利于降低ITO薄膜的电阻率,并确定最佳氩气压强为0.2 Pa,厚度为120 nm的ITO薄膜在可见光区的透过率可达到90%;氧流量能明显改变薄膜的性能,随着氧流量从0增加10 L/min(标准状态下,下同),载流子浓度(N)则由3.2×1020降低到1.2×1019/cm3,N值的变化与ITO薄膜光学禁带宽度(Eg)的变化密切相关.振子模型与实验结果吻合,并确定了ITO薄膜的等离子波长(λp=1 510 nm).薄膜随方阻减小表现出明显的"B-M"效应.通过线性外推,建立了直接跃迁的(αE)2模型,并确定了薄膜的Eg值(3.5~3.86 eV). 相似文献
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在连续小波基的平稳序列时频分析方法基础上,对非平稳时间序列的时频分析方法深入研究,引入经验模态分解法,利用信号的局部特征——时间尺度,从原信号中提取若干个固有模态函数(IMF)和一个残余量,用多个固有模态函数表征信号的局部特征,用残余分量表征信号缓慢变化的趋势,并形成非平稳信号经验模态分解算法。通过实例应用研究验证了EMD分解后所作的瞬时Hilbert幅值谱,比连续小波变换CWT分解后的谱的分辨率高,并与地震道波形匹配自然,可用于地震非平稳数据的时频分析。 相似文献
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滚压工艺对EA4T车轴表面质量完整性的影响及预测模型建立 总被引:1,自引:0,他引:1
表面质量完整性是决定车轴使用寿命和机车行驶安全的关键因素,滚压工艺对车轴表面质量完整性产生重要影响。通过EA4T车轴滚压正交试验,研究了工艺参数对表面质量完整性影响规律,建立了滚压表面粗糙度与残余应力预测模型,并进行回归方程方差分析与残差分析,验证了预测模型的有效性。结果表明:工艺参数中进给速度对表面粗糙度和残余应力的作用最为显著,贡献率分别为粗糙度91.70%、周向残余应力48.95%、轴向残余应力48.18%。此外,滚压道次与滚压深度分别对周向和轴向残余应力有较大影响,贡献率分别为39.15%和33.19%;与其它因素相比,滚压速度对表面硬度影响较大,贡献率达到54.7%。 相似文献
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采用ARM9系列的S3C2440作为CPU,CC1100作为射频收发器,设计特高频(UHF)RFID手持式阅读器。射频电路采用两片CC1100以解决单片不能同时收发信号的缺点,采用两级放大持续对阅读器连续供电,并对阅读器软件部分的防碰撞算法进行优化。结果表明,与传统时隙ALOHA防碰撞算法相比,改进的防碰撞算法的吞吐率维持在0.357左右,吞吐率平均提高了8.44%,碰撞概率平均降低了6.3%。所以,阅读器系统有效提高了单位时间内标签读取的准确性、读取速度、识别率,降低了标签相互碰撞的概率。 相似文献