全文获取类型
收费全文 | 65篇 |
免费 | 0篇 |
学科分类
工业技术 | 65篇 |
出版年
2020年 | 1篇 |
2019年 | 3篇 |
2018年 | 2篇 |
2017年 | 2篇 |
2013年 | 2篇 |
2011年 | 4篇 |
2010年 | 5篇 |
2009年 | 4篇 |
2008年 | 4篇 |
2007年 | 5篇 |
2006年 | 3篇 |
2005年 | 1篇 |
2004年 | 3篇 |
2003年 | 1篇 |
2001年 | 2篇 |
2000年 | 3篇 |
1999年 | 1篇 |
1998年 | 1篇 |
1997年 | 1篇 |
1995年 | 1篇 |
1994年 | 1篇 |
1992年 | 1篇 |
1991年 | 1篇 |
1990年 | 2篇 |
1989年 | 2篇 |
1988年 | 1篇 |
1987年 | 1篇 |
1985年 | 1篇 |
1984年 | 2篇 |
1981年 | 1篇 |
1980年 | 1篇 |
1979年 | 1篇 |
1977年 | 1篇 |
排序方式: 共有65条查询结果,搜索用时 15 毫秒
1.
叠层片式电感及低温烧结铁氧体的研发进展 总被引:13,自引:0,他引:13
介绍了叠层片式电感的现状及其低温共烧技术,特别就低温烧结NiCuZn、MgCuZn和Co2Z铁氧体粉料的研发进展作了详细报道.最后,展望了低温烧结铁氧体的发展趋势,指出缩小差距的研究方向. 相似文献
2.
YCaVIG的共振线宽、晶粒尺寸及化学均匀性—关于微波磁损来源的探讨 总被引:1,自引:0,他引:1
用电镜在三个铁磁共振线宽差别很大的 Y_(1.2)Ca_(1.2)Sn_(0.3)V_(0.5)Ge_(0.5)Fe(0.7)O_(12)烧结样品上分别测取20个点的成分数据。讨论了共振线宽△H 与由20个成分数据离散度σ_x 所表征的样品化学不均匀程度及品粒尺寸、予烧温度等工艺条件的关系。认为由固相反应不完全所引起的化学和磁的不均匀性是多晶线宽的主要致宽因素之一。 相似文献
3.
4.
最近二十年来铁氧体大量地用于微波技术,从原始雷达和通讯到工业加热仪器仪表,近来甚至用到家庭中如微波炉和报警器。铁氧体元件不仅包括大家所熟知的非互易性器件如隔离器、环行器、相移器、衰减器、开关、功率限幅器等,新近还有应用光刻技术把微波集成电路做在铁氧体基片上的整个部件。最早应用的是简单的隔离器和环行器,用它来吸收元件或天线失配反射回来的功 相似文献
5.
6.
用普通陶瓷工艺制备YIGs、YGdIGs和BiCaVIGs等系列石榴石多晶铁氧体,按GB9633(等同IEC60556)标准在10.7GHz下测量了复合石榴石YIGs、YGdIGs和BiCaVIGs的介电常数ε′和介电损耗角正切tanδε,同时也测量了9.37GHz下的铁磁共振线宽DH。比较了加与不加稳恒磁场时ε′和tanδε的测量结果,讨论了加磁场后介电损耗的下降。此外还研究了tanδε和DH与缺铁量的关系,分析了DH最小值对应的缺铁量和tanδε最小值对应的缺铁量不重合的原因。 相似文献
7.
Dy:YGdIG(DyxY3-b-z-xGdzCabGebInaFe5-a-bO12)的△H,△Heff,△Hk与Dy取代量呈线性增加关系。随饱和磁化强度Ms的增加Dy:YGdIG的优值系数Fhp(≈(2ω/ωm)(δ△Hk/δ△Heff))和δ△Heff/δ△Hk值均呈线性下降。CaGe:YGdIGs(Y2-xGd1.0CaxGexInaFe5-a-xO12)的△H,△Heff,△Hk随Ge含量的增加而线性增大,可分别用Ms的下降进行解释。由CaGe:YGdIGs和YBiCaVIGs的△H,△Heff与Ms的关系得出△Heff∝Ms-0.8(YBiCaVIG),Ms-1.4(YGdCaGeIG)的实验规律,与非共振△Heff的晶粒表层自旋波共振激发模型较为一致。由Gd:YIG(GdxY3-xFe5O12),Gd:YCaGeInIG(GdxY3-x-aCaaGeaInbFe5-a-bO12)实验,发现少量CaGeIn的取代可使YGdIG的△H明显降低而不影响△Hk。由不同晶粒尺寸样品的hc(H)蝶形曲线,发现了阶梯状蝶形曲线,讨论了晶粒尺寸对△Hk、hc(H)蝶形曲线的影响,以及拐点磁场与理论Hmin之间的差... 相似文献
8.
软磁铁氧体生产国内外近期动态 总被引:2,自引:1,他引:1
根据最近(2008.10.10)举行的第十届国际磁铁氧体会议(ICF10)和第十三届全国磁学会议(2008.10.31)资料,以及近两年有关专业会议文献等,综合报导了MnZn和NiZn软磁铁氧体材料生产方面的国内外近期发展动态。 相似文献
9.
利用热压工艺制备出了细晶粒(2μm)YIG铁氧体材料,测量了其微波性能,结果表明,细晶粒铁氧体的自旋波线宽ΔHk显著提高,其ΔHk与晶粒尺寸有a0^-1.7的相依关系。同时,分析讨论了细晶粒铁氧体铁磁共振线宽ΔH的致宽因素。 相似文献
10.