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951.
探讨了在电磁铸轧中采用单片机作为核心监控装置的工作原理,论述了用单片机实现函数信号发生的硬件设计和软件流程,实现了对感应器产生特殊复合磁场的控制,并提出了一种新的随机数的产生方法。 相似文献
952.
953.
在对山西资源现状分析的基础上,就山西如何走新型工业化道路,如何正确地处理山西日益突出的生态环境,自然资源和社会经济发展的矛盾问题,提出了对策和建议。 相似文献
954.
本文对白云鄂博主矿采场铁公路联合运输向公路运输转换位置是否确定为1638m水平以及运输工艺转换过程中相关问题进行分析论证,提出主矿采场铁路至少可向下延深一个水平,技术上可行,节约运费千万元以上。 相似文献
955.
本文使用吹扫捕集法来前处理水样,用带有电子捕获检测(ECD)的气相色谱仪来测定水中三卤甲烷(THM)_s。水样加标回收率在85%~115%之间,相对标准偏差在5%左右。实验结果表明,该法具有简单、快速、灵敏的特点。 相似文献
956.
系统分析了新钢公司一钢厂转炉入炉铁水温度低的原因及铁水温度对炼钢的影响,提出了提高铁水温度的措施及转炉应对低温铁水的办法。 相似文献
957.
958.
现场总线控制系统浅谈 总被引:1,自引:0,他引:1
简述了现场总线控制系统的结构及其显优点。现场总线控制系统的结构包括:主控器、总线接口、电源、输入/输出接点、总线电揽和终端电阻。另外对其显优点做了逐一介绍。现场总线控制系统可在工业自动化控制系统中推广应用。 相似文献
959.
气弹簧后端省去封头,而用缸体直接封口,杜绝了漏气,强化了结构。文章着重介绍了实现这一结构的径向进给封口工具及工艺。 相似文献
960.
S. Zaefferer 《Advanced Engineering Materials》2003,5(8):607-613
In recent years the investigation of local texture and microstructure by analysis of electron backscatter diffraction patterns (EBSP) in the SEM has become a very powerful and popular method. With the introduction of SEM with field emission guns (FEG) the spatial resolution of EBSP measurements could be enhanced from 500 nm with a tungsten emitter to better than 50 nm. This evolution of SEM techniques raises the question whether transmission electron microscopy (TEM) still has fields of application in texture research. The present article answers this question with a clear “yes” and presents three examples of investigations where TEM is indispensable. The three examples comprise the investigation of the correlation between dislocation structure and deformation texture, a study on nucleation mechanisms of recrystallization in highly deformed metals and the investigation of microtexture and microstructure in nanocrystalline materials. Together with the presentation of these cases some of the necessary measurement techniques are described briefly. It is shown that TEM has to be applied when highest spatial resolution of orientation determination and imaging and high accuracy of orientation determination are to be reached, when the three‐dimensional and quantitative characterization of lattice defects is required or when materials with a high density of lattice defects are to be investigated. 相似文献