具有相依故障不可修复混联系统的失效率

本文研究了具有共振相依故障的串并联系统及并串联系统的失效率,得到了相应的计算 公式,并比较了两种系统的优劣和使用时机.     

DUT15—48／200型太阳能组合电源可靠性估算

通过建立合理的可靠性模型，对ＤＵＴ１５－４８／２００型太阳能组合电源的可靠性进行了有根据的估算。     

IC失效率的预测研究

前几篇论文中,曾对我厂多年来生产的IC进行了长达七千多小时的可靠性试验。经数据处理得出了重要的可靠性参数失效率λ、平均寿命等。可以看出我厂生产的IC可靠性已达到了较高水平。这里,再对若干电路进行了失效率的预测研究,得出的失效率λ值与试验数据处理得出的失效率λ值相比较,均在同一数量级。证明此方法可省人力、物力和财力,既能提供可靠信息,又可为厂增加经济效益。     

行波管可靠性失效率模型的研究

本文以行波管现场使用数据和失效模式为基础，根据可靠性理论对真空电子器件失效率或平均寿命考核可靠性指标的方法，参照美国军标ＭＩＬ－ＨＤＢＫ－２１７Ｅ，Ｆ，结合我国具体实际，对行波管失效率的数学模型，采用数理统计回归分析后，定量得出我国行波管可靠性的水平，并用现场数据对失效率模型进行验证，提出我国行波管总体可靠性水平与美国之间的差距。     

数码管显示系统的可靠性设计

传统的数码管动态显示电路存在着可靠性差，功耗大的缺陷，本分析了其功耗与失效率，提出了两种改进方案并成功地应用于实际系统中。     

矿用调度交换机的可靠性及其对策

运用可靠性基本理论对矿用调度交换机失效的现状、部位、机理及靠性模型进行了分析，提出了提高调度交换机可靠性的对策和评估量化指标。     

硅整流二极管的可靠性评价

本文用电耐久性试验,通过电路选择,试验结果的失效分析等对硅整流二极管进行可靠性评价。该方法简单易行。试验结果可信并符合国家标准要求。     

以截尾子样估计威布尔故障率函数的子样容量

对于试验者设计一个寿命试验的重要部分是确定为达到一个特定的精密度所必需的子样容量，故障率函数常被用作判决准则，在替换决定的时候尤其如此，在本文中我们说明了为选择这个子样容量，必需以一个特定的精密度估计某点上的故障率函数，我们提供一个易用的程序，它能用在威布尔分布以及达到预定的试验时间以后而终止的寿命试验上，说明了对其它的失效时间分布和其它的寿命试验类型的应用方法。     

基于序进应力加速实验评价失效率的新方法

基于序进应力加速寿命实验的研究,提出了一种快速确定半导体器件失效率及寿命分布的新方法.该方法将序进应力加速实验应用于失效率评价中,在计算失效激活能并外推寿命的基础上,快速确定微电子器件的寿命分布及相应的失效率.以样品3DG130为例,在160～310℃范围内进行了序进应力加速寿命实验,然后根据模型计算得到了器件的寿命、分布和失效率.结果与文献吻合很好,验证了方法的可行性.