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41.
42.
《仪器仪表标准化与计量》2007,(1):I0008
基本概念
OSSD:分配给输出电路的安全AS—i部件和功能部件,能够释放产生危险动作的机械部件。
外部装置监控电路(电流接触器监控):允许电流接触器的开关功能连接到被监控的AS—i安全监控器的外部装置监控电路。 相似文献
43.
热应力对半导体分立器件失效率的影响 总被引:3,自引:0,他引:3
莫郁薇 《电子产品可靠性与环境试验》1996,(5):25-31
本文通过对大量现场和试验可靠性数据的统计分析,论证了采用阿伦尼斯模型描述热应力对半导体分立器件失效率影响的适用性。 相似文献
44.
MIL—R—39016E失效率等级鉴定抽样方案的理论根据 总被引:1,自引:0,他引:1
用数理统计的方法导出MIL-R-39016E中表Ⅲ和表Ⅳ数据的计算公式。E版(1994)与D版(1986)比较,失效率等级鉴定抽样方案的操作程序有变化。 相似文献
45.
从电子元器件的选择、控制和使用等诸多方面讨论电子元器件的应用可靠性,包括质量等级、失效率等级、选择原则与质量控制;微电子器件的应用可靠性(过应力损伤、降额使用、二次筛选);阻容元件的使用可靠性(电阻器、电位器、电容器)及其他元件的选择和应用(继电器、微波元件、连接器)。 相似文献
46.
在对许多系统产品的寿命数据的统计分析的基础上 ,研究了当系统失效率函数具有浴盆形时 ,不可修系统在 τ时刻的剩余寿命 F( x+τ)F( x) 和可修系统在 [0 ,τ]间的平均失效次数 E( Nx( τ) ) ,结果表明 ,它们作为参数 x的函数 ,当 τ≤t2 - t1时 ,分别在 [t1,t2 - τ]间取得最大值、最小值 ;当 τ>t2 -t1时 ,分别在 [0 ,t1,]间取得最大值、最小值。由此构造出一个具有该种特点的混合分布 ,并用一个例子来加以验证。 相似文献
48.
50.
行波管可靠性失效率模型的研究 总被引:2,自引:0,他引:2
本文以行波管现场使用数据和失效模式为基础,根据可靠性理论对真空电子器件失效率或平均寿命考核可靠性指标的方法,参照美国军标MIL-HDBK-217E,F,结合我国具体实际,对行波管失效率的数学模型,采用数理统计回归分析后,定一得出我国行波管可靠性的水平,并用现场数据对失效模型进行验证,提出我国行波管总体可靠性水平与美国之间的差距。 相似文献