全文获取类型
收费全文 | 2564篇 |
免费 | 1010篇 |
国内免费 | 423篇 |
学科分类
工业技术 | 3997篇 |
出版年
2024年 | 100篇 |
2023年 | 261篇 |
2022年 | 592篇 |
2021年 | 685篇 |
2020年 | 432篇 |
2019年 | 290篇 |
2018年 | 300篇 |
2017年 | 242篇 |
2016年 | 181篇 |
2015年 | 270篇 |
2014年 | 240篇 |
2013年 | 206篇 |
2012年 | 58篇 |
2011年 | 27篇 |
2010年 | 17篇 |
2009年 | 18篇 |
2008年 | 6篇 |
2007年 | 5篇 |
2006年 | 16篇 |
2005年 | 12篇 |
2004年 | 3篇 |
2003年 | 1篇 |
2002年 | 2篇 |
2001年 | 3篇 |
2000年 | 4篇 |
1999年 | 3篇 |
1998年 | 1篇 |
1996年 | 2篇 |
1981年 | 6篇 |
1980年 | 1篇 |
1959年 | 4篇 |
1951年 | 9篇 |
排序方式: 共有3997条查询结果,搜索用时 15 毫秒
51.
以区间模糊偏好关系(IVFPR)和直觉模糊偏好关系(IFPR)的理论框架为依据,将勾股模糊数(PFN)引入偏好关系中,定义勾股模糊偏好关系(PFPR)和加性一致性PFPR.然后,提出标准化勾股模糊权重向量(PFWV)的概念,并给出构造加性一致性PFPR的转换公式.为获取任意给定的PFPR的权重向量,建立以给定的PFPR与构造的加性一致性PFPR偏差最小为目标的优化模型.针对多个勾股模糊偏好关系的集结,利用能够有效处理极端值并满足关于序关系单调的勾股模糊加权二次(PFWQ)算子作为集结工具.进一步,联合PFWQ算子和目标优化模型提出一种群体决策方法.最后,通过案例分析表明所提出方法的实用性和可行性. 相似文献
52.
通过对视频监控数据的特点和传统存储方案进行分析,提出一种高性能分布式存储系统解决方案.不同于传统的基于文件存储的方式,设计了一种逻辑卷结构,将非结构化的视频流数据以此结构进行组织并直接写入RAW磁盘设备,解决了传统存储方案中随机磁盘读写和磁盘碎片导致存储性能下降的问题.该方案将元数据组织为两级索引结构,分别由状态管理器和存储服务器管理,极大地减少了状态管理器需要管理元数据的数量,消除了性能瓶颈,并提供精确到秒级的检索精度.此外,该方案灵活的存储服务器分组策略和组内互备关系使得存储系统具备容错能力和线性扩展能力.系统测试结果表明,该方案在成本低廉的PC服务器上实现了单台服务器能同时记录400路1080P视频流,写入速度是本地文件系统的2.5倍. 相似文献
53.
针对目前表情识别准确率偏低,表情数据集中类别样本类间差异小、类内差异大以及误标注样本产生的误分类等问题,提出了一种结合改进VGGNet和Focal Loss的人脸表情识别算法。在迁移学习的基础上,通过设计新的输出模块对VGGNet模型进行改进,提升了模型的特征提取能力,能够较好地避免过拟合现象;通过设置概率阈值对Focal Loss进行改进,避免误标注样本对模型分类性能产生影响。实验结果表明,该模型在CK+、JAFFE以及FER2013数据集上的识别准确率分别达到了99.68%、97.61%和72.49%,在实际应用中泛化能力突出。 相似文献
54.
大数据时代背景下,时空轨迹数据应用的场景日益增多且这些数据蕴含着大量的信息,而轨迹的相似性度量作为轨迹挖掘工作的关键步骤起着举足轻重的作用。但传统轨迹相似度量方法有着时间复杂度高、基于轨迹点判断而不够精确的问题。为了解决这些问题,提出了适用于无路网结构轨迹的以轨迹间面积度量为原理的三角分割(TD)方法轨迹相似度量方法。通过建立“指针”选择两轨迹间的轨迹点连线以构建互不重叠的三角形,累加三角形面积并计算轨迹相似度,通过在不同应用场景下设置的阈值来确认轨迹的相似情况。实验结果表明,与传统的基于轨迹点的空间轨迹相似度量方法——最长公共子序列(LCSS)方法和弗雷歇距离度量方法相比,所提方法提升了识别的准确度,且时间复杂度降低了接近90%,能更好地适应轨迹点分布不均匀的轨迹相似度量工作。 相似文献
55.
56.
57.
58.
目的 对半导体晶片抛光过程中的工艺参数、耗材使用量、抛光垫状态参数等多源数据预处理后进行数据融合,建立材料去除率(MRR)预测模型,为实现半导体晶片抛光加工工艺的决策和处理奠定基础。方法 研究晶片抛光加工中的数据特点及数据融合需求,提取数据集中每个晶片加工过程中的统计特征并生成新数据集,同时引入邻域特征以应对晶片加工过程中动态因素对材料去除率的影响。提出基于深度自动编码器的多源数据融合及材料去除率预测方法。设计深度自动编码器参数,优化深度自动编码器的损失函数从而增强深度自动编码器对强相关性特征变量的重建。基于深度自动编码器进行多源传感器信号融合,降低数据维度。使用超参数搜索算法优化BP神经网络超参数,利用BP神经网络方法将融合后的数据进行半导体晶片抛光过程中的材料去除率预测。结果 采用PHM2016数据集对模型进行验证,均方误差MSE达到7.862,相关性R2达到91.2%。结论 基于多源数据的融合模型能有效预测MRR,可以对半导体晶片CMP工艺过程的智能决策与控制起到良好的辅助作用。 相似文献
59.
60.