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51.
光催化氧化后四环素的分解率与COD去除率之间关系的探讨 总被引:1,自引:0,他引:1
以粉状无机半导体(ZnO)为催化剂,探讨了水溶液中四环素经光催化氧化分解率和COD去除率之间的关系。实验表明,在本实验中四环素的分解率和COD去除率之间有较好的正相关性。当反庆系统中有足量的活性催化剂和足够的光照时间时,绝大部分四环素将被较彻底地氧化分解成CO2,这不仅有助于光催化反应机理的研究,助于今后在环保中的实际应用。 相似文献
52.
片式阻容元件的现状和发展方向 总被引:1,自引:1,他引:0
在国外的片式元器件(SMD)中,片式阻容元件发展最快,主要表现为片式化率迅速上升,尺寸越来越小,性能越来越好,包装形式多样化和生产管理不断改进。本文综述了国外阻容元件在这些方面的进展,指出了我国的差距,提出了我国如何发展的措施。 相似文献
53.
Gang Bao 《Wireless Networks》1996,2(3):229-237
Due to the high frame error rate in wireless communication channels, an additional link layer protocol, Radio Link Protocol (RLP), has been introduced in the newly approvedData Services Option Standard for Wideband Spread Spectrum Digital Cellular System. In this paper, we investigate performance issues of a typical Cod Division Multiple Access (CDMA) wireless link using the protocol stack given in the standard. In particular, we focus on the dynamics of the TCP and RLP layers of the protocol stack since the fluctuation of system performance is largely caused by Automatic Repeat Request (ARQ) mechanisms implemented at these two layers. We compare the network performance of default parameter setting to those of other possible parameter settings. Analytical and simulation results presented in this paper can provide guidance to those attempting to further improve performance of interest. 相似文献
54.
本文介绍了应用模糊数学方法进行计算机辅助诊断电视机的故障原因,这种方法有效性在于建立模型的因果关系正确性和自动搜索范围及速度。 相似文献
55.
56.
文章采用中心点火管结构的实验装置研究了黑火药的点传火性能。用低速爆轰 (L VD)中心点火管来点燃黑火药时 ,1# ~ 3# 大粒黑药的传火速度为 70 0 m· s-1~ 80 0 m· s-1数量级 ,燃烧波宽度在 3.1ms~ 3.5 ms,最大压力峰值 :1# 为 36 .4 MPa,2 # 为 2 4 .0 MPa,3# 为 38.0 MPa。用普通中心点火管点燃黑火药时 ,2 # 、3# 和钝化 2 # 大粒黑的传火速度分别为 6 1.2 m· s-1、6 8.2 m·s-1和 4 0 .1m· s-1,最大燃烧波宽度分别为 9.2 ms、6 .3ms和 9.5 ms。燃烧波表明 ,L VD中心传火管与普通中心传火管相比较 ,在传火管的不同位置处 ,前者的 P- t曲线一致性远高于后者。 相似文献
57.
58.
59.
用磁控溅射方法制备了系列 (Fe0 .86 Zr0 .0 33Nb0 .0 33B0 .0 6 8Cu0 .0 1 ) x(Al2 O3) 1 -x颗粒膜样品 ,体积百分比x从 0 .3 3~ 0 .63 ,样品厚度约为10 0nm。室温下在Fe0 .86 Zr0 .0 33Nb0 .0 33B0 .0 6 8Cu0 .0 1 体积百分比x =0 .43时得到 17.5 μΩ·cm的最大饱和霍耳电阻率 ,比纯铁磁金属提高了 3~ 4个量级。对其磁性和微结构进行了研究 ,样品霍耳电阻率随外场的变化曲线 ρxy~H与磁场平行于膜面时的磁化曲线M~H有相似性 ,说明霍尔电阻率 ρxy与磁化强度M相关。样品电阻率 ρxx随金属体积百分比x的减小而增加 ,在x =0 .43附近发生突变 ,从金属导电变为绝缘体。根据微结构和输运性质对可能的机制进行了探讨 相似文献
60.