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51.
等价性验证在集成电路设计中占有重要地位.然而,传统的电路表示模型存在着算法复杂度高或只针对特定电路有效的缺点.针对这一缺点在介绍了WGL模型的基础上,给出基于该模型的等价性验证算法,并对比传统的BDD模型进行实验.实验结果表明算法是有效的.  相似文献   
52.
为了实现多项式数据通路的初始算术规范与其相应的寄存器传输级实现之间的等价性验证,提出了一个有序的、简化的和正则的带权值广义表模型表达字级多项式,同时给出了该模型的化简、加法和乘法运算规则,基于这些规则对寄存器传输级电路构建其相应有序的、简化的和正则的带权值广义表模型.实验结果表明,该模型对寄存器传输级电路的等价性验证与*BMD相比,不论是在存储空间还是在CPU时间花费上均有明显的优势.  相似文献   
53.
在基于Horner展开的基础上给出了高层次数据流低功耗综合方法。对电路的函数描述进行转换,得到最终的多项式形式,并应用Horner展开。根据Horner展开的结果对数据流进行调度、分配、绑定。在综合的过程中考虑绑定和布局对电路实现的互连线长度的影响。通过减少互连线的长度,进而减少电路的功耗。该方法可以在满足电路设计性能和面积的前提下,得到较优的电路设计结果。实验结果表明,该方法比一般综合方法减少功耗约20%,说明了其有效性。  相似文献   
54.
以吴方法为理论基础,提出一种针对高层次设计验证的定界模型检验方法.通过使用多项式等式建模高层次设计和待验证性质,将定界模型检验问题转化为定理证明问题,并用吴方法有效地解决该定理证明问题.实验结果表明,与基于布尔SAT、基于LP的RTL SAT以及基于非线性求解器的性质检验方法相比,该方法在时间消耗上具有相当大的优势.  相似文献   
55.
基于FPGA的嵌入式自动计量系统研究与设计   总被引:1,自引:1,他引:0  
针对传统人工包装系统效率低、计量精度差的不足,对嵌入式计量系统进行了研究.采用基于FPGA的可编程片上系统技术,实现包装系统的自动化.通过控制算法和复杂的滤波算法设计成IP核,进行软件程序的固化,提高了计量系统的计算、运行能力.系统可自动完成称重、夹袋、卸包和包装的机电一体化过程.具有精确流量控制、减少物料损耗、降低工人劳动强度、改善工作条件的优点.  相似文献   
56.
为了提高可满足性求解器的效率,提出了一种利用电路可观无关性的方法.以带可观无关条件的CNF理论为基础,通过在可观无关条件计算时不使用变量排序,减少可观无关条件丢失.通过不对只出现在可观无关条件中的变量赋值,保证电路的控制唯一性.理论分析和实验结果表明,用该方法实现的可满足性求解器的搜索空间小、速度快.  相似文献   
57.
功耗约束下的SoC核流水测试可避免过高功耗毁坏待测芯片,对SoC核的流水测试进行调度可合理地分配测试资源、减少测试时间.以进程代数为理论基础,提出了一种SoC核流水测试的测试调度方法.通过建立并发测试进程的时间标记变迁系统模型,形成了将前者转化为共享资源的通信代数(ACSR)描述的几个定理;建立了SoC测试调度模型;将核的流水测试映射为并发执行的进程、把测试资源建模为ACSR资源,用优先级解决测试冲突,使得功耗约束下的测试获得最大并行性,同时使测试应用时间最小.实验结果证明进程代数ACSR在处理SoC测试调度问题方面优于已有的经典算法.  相似文献   
58.
随着现代半导体技术的发展,将整个系统集成在一个芯片上成为可能.但系统集成芯片SOC的测试也成为一项越来越艰巨的工作.文章采用一种改进的智能蚁群算法来解决SOC中芯核测试调度问题,在带宽一定的条件下,利用智能蚊群算法的特性,考虑各种资源约束,动态地寻找最优调度方法,并且在调度过程中,动态的更新信息.与模拟退火算法相比较,该方法降低了测试时间,得到较好的效果.  相似文献   
59.
论文运用Boole过程论中对逻辑电路进行描述和计算的基本思想,较好地解决了逻辑电路波形模拟中的冒险检测与消除、反馈环路处理、伪路径识别和惯性延迟冲突等关键问题。在此基础上,面向详细布线提出RC延迟与动态加载串扰相结合的互连线延迟计算方法,并将其融入到基于Boole过程的波形模拟算法中。论文充实和完善了基于Boole过程的波形模拟算法,改进了其中的不足之处,扩展了Boole过程的应用。  相似文献   
60.
多值Boole过程   总被引:1,自引:0,他引:1  
采用文献[1]中定义的扩展Allen-Givone代数概念将Boo1e过程沦扩充,提出了多值Boo1e过程的概念及其运算,为精确统一描述多值逻辑电路的逻辑功能和定时行为提供了一种解析途径。提出基于Allen-Givone代数的带状波形概念,用实值的加、减、乘、除运算为电路的异步特性提出了解析化的理论基础。这种数学分析与离散数学相结合的途径能相对精确地描述电路的时滞模型。在多值逻辑电路设计自动化技术的测试、模拟、综合等领域中,这种方法有它的应用前景。  相似文献   
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