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11.
12.
本文简要论述了传统 PQFP 封装技术,并根据 I/O 数、密度(面积)、电性能、生产量及“爆玉米花”效应,对它们进行了比较,最后简述了这两种封装技术的发展趋势。 相似文献
13.
近年来,南朝鲜出口美国的纺织产品在遭受美国日益增长的保护主义压力下,正在另寻途径进一步打入美国市场。经过几年艰辛摸索,终于找到了向美国和其邻近地区直接投资的办法。八十年代初已有个别南朝鲜纺织公司在美国建厂,至于在加勒比海地区投资亦已酝酿多年,并开办了一些工厂。加 相似文献
14.
15.
对影响全机械扫描强流离子注入机剂量重复性的因素进行了分析。对束流纹波的影响建立了数学模型,计算了束流纹波对剂量重复性的影响。结果表明只要束流纹波在9%以内,剂量重复性可控制在1%以下。 相似文献
16.
17.
为了验证在各种温度和湿度条件下的封装性能,电子行业界一直广泛地采用JEDEC标准。对低管脚数、高密度封装的各项要求,推动了新一代封装的蓬勃发展,从而替代各类方形扁平封装,封装尺寸一直急剧地缩减。无铅焊料的应用使封装的回流焊温度比以前显著地提高,因此,对这些封装的JEDEC试验标准需要重新评定。本文论述了湿度扩散分析、热传递分析和基于力学的界面断裂热机分析。研究了不同的回流焊分布图。由于较小的封装尺寸和较高的回流焊温度,新一代封装对回流焊参数诸如峰值温度和冷却率更敏感。对新一代封装的可靠性试验而言,为了确保这些封装不受以前JEDEC副本的影响,并且比其更精确,修改JEDEC试验标准是必需的。 相似文献
18.
介绍了把断裂力学法应用于倒装片BGA的设计方法。概述了一些关键的材料特性和封装尺寸对倒装片BGA芯片裂纹的影响作用,从而断定基板厚度和芯片厚度是倒装片BGA芯片发生裂纹的两个最重要的因素。 相似文献
19.
杨建生 《电子工业专用设备》2011,40(5):15-20
包含微机电系统(MEMS)混合元器件的埋置型叠层封装,此封装工艺为目前用于微电子封装的挠曲基板上芯片(COF)工艺的衍生物.COF是一种高性能、多芯片封装工艺技术,在此封装中把芯片包入模塑塑料基板中,通过在元器件上形成的薄膜结构构成互连.研究的激光融除工艺能够使所选择的COF叠层区域有效融除,而对封装的MEMS器件影响... 相似文献
20.
本文简要叙述了在应用于消费类电子的芯片直接粘接(DCA)封装技术方面,所采用的裸芯片背部打印技术的状况和所面临的挑战。 相似文献