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在EDXRF分析中,X射线荧光计数率与待测元素有密切关系.由理论可知,在能量色散型X荧光分析仪设计时,优化X光管、样品和探测器的相对几何位置对荧光计数率的改善有很大的帮助.在前期模拟的最佳角度基础上,采用MCNP程序,建立几何模型,模拟了X光管、样品和探测器之间不同距离时的X荧光计数率,得到了这三者之间的最佳距离. 相似文献
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针对低功耗能量色散X光管供压电源的要求,研制一种满足条件的电源控制器。该控制器采用集成电路设计,主要包括:稳压电源电路设计、可调控制器电路设计。经过性能测试,该控制电源输出电压具有良好的线性和稳定性,能满足小功率X光管的供电应用。 相似文献
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采用X射线荧光分析方法(XRF)分析黄铜合金中主元素含量,阐述了分析的基本原理,采用经验系数法、二元比例法对基体效应进行校正。实验结果表明,采用经验系数法分析黄铜合金中Cu、Zn含量的平均相对误差为0.81%、2.54%;采用二元比例法分析Cu、Zn含量的平均相对误差为1.40%、2.03%;单样分析仅需300 s。 相似文献
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铁矿石XRF现场取样技术的研究与应用 总被引:5,自引:0,他引:5
介绍了铁矿石X射线荧光分析现场取样的技术及其在武钢金山店铁矿的应用效果,主要讨论XRF现场取样中的几何效应。基体效应、水份及矿化不均匀性的影响和校正办法。试验表明,XRF现场取样的合格率达到87.7%,超过了传统的人工取样化验方法的重现性,其速度比传统方法至少提高200倍,并明显地降低了生产成本,提高了经济效益。 相似文献
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XRF方法在测量纸张厚度中的应用 总被引:1,自引:0,他引:1
本文的目的是研究XRF法在纸张厚度测量上的应用.采用X射线荧光吸收法和源初级射线散射法分别对一批纸张样品质量厚度进行测量,并对测量结果进行对比,作出有益的讨论.测量是采用成都微子科技有限公司的IED-2000P型手提式多元素X射线荧光分析仪,探测器选用Si-PIN电致冷半导体探测器,同位素源采用双激发源(238Pu).实验表明:X射线荧光吸收法在纸张厚度测量上的准确度要比源初级射线散射法好,采用源初级射线散射法对于纸张厚度的测量也是可行的. 相似文献
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