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Alsing P. Peterson P. Cardimona D. Gavrielides A. 《Quantum Electronics, IEEE Journal of》1987,23(5):557-568
We investigate the saturation effects of power broadening, Stark shifting, and population transfer on Stokes conversion in stimulated Raman scattering. We do not make the usual rotating wave approximation because the detuning from the next electronic state is assumed to be in the optical regime. Retaining the counter-rotating terms allows an exact determination of the pump and Stokes indexes of refraction. Steady-state solutions for the Stokes intensity and phase are obtained and the effects of making the rotating wave approximation (RWA) are discussed. Finally, we examine the behavior of these solutions for Stokes conversion in hydrogen gas when geometric propagation is appropriate. 相似文献
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Stevens M. Williams P.D. Peterson G.L. Kurkowski S.H. 《Computational Intelligence Magazine, IEEE》2008,3(2):65-68
This research supports the hypothesis that the Trust Vector model can be modified to fit the CyberCraft Initiative, and that there are limits to the utility of historical data. This research proposed some modifications and expansions to the Trust Model Vector, and identified areas for future research. 相似文献
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Chadwin D. Young Gennadi Bersuker Yuegang Zhao Jeff J. Peterson Joel Barnett George A. Brown Jang H. Sim Rino Choi Byoung Hun Lee Peter Zeitzoff 《Microelectronics Reliability》2005,45(5-6):806
Effects of constant voltage stress (CVS) on gate stacks consisting of an ALD HfO2 dielectric with various interfacial layers were studied with time dependent sensing measurements: DC I–V, pulse I–V, and charge pumping (CP) at different frequencies. The process of injected electron trapping/de-trapping on pre-existing defects in the bulk of the high-κ film was found to constitute the major contribution to the time dependence of the threshold voltage (Vt) shift during stress. The trap generation observed with the low frequency CP measurements is suggested to occur within the interfacial oxide layer or the interfacial layer/high-κ interface, with only a minor effect on Vt. 相似文献
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