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11.
以数字近景摄影测量中相机内参数为研究对象,分析了相机成像模型和镜头畸变模型,使用基于平面标定物的方法对内参数进行了校准。根据数字近景摄影系统的特点和用途,设计和制作了具有多种特征的标定板,给出了相机内参数校准的步骤。对角点检测函数做了算法上的分析,编写了适合标定板的角点检测函数。用该方法对数字近景摄影相机的内参数进行了校准试验,角点检测的平均误差<0.02 pixel。  相似文献   
12.
结合大型精密系统部装及总装精测时对大尺寸测量设备布局优化及稳定性的要求,论述了大尺寸测量设备高空精测平台结构组成、实现设备高空精测时的稳定支撑方式、稳定升降的结构原理。试验数据表明,该平台高空作业时沉降率不大于0. 02 mm/h,加载经纬仪稳定性达到0. 6″/h,满足精测需求。  相似文献   
13.
为解决工业摄影测量系统基准尺校准中的逆反射标志中心精确定位问题,提出了一种基于显微视觉和图像处理的圆形逆反射标志中心定位方案。介绍了中心定位系统的组成及原理,根据逆反射标志的反光特性及其在显微镜下的图像特征,分析了图像预处理、特征提取以及标志中心定位的图像处理方法。对可能影响标志中心定位结果的图像放大倍率、标志图像在视场中的位置、照明等因素进行了试验分析,对规范基准尺校准过程有重要意义。  相似文献   
14.
室内GPS利用测量的水平角和垂直角来定位,其测角误差直接影响到系统的综合测量误差,结合室内GPS的测角误差,提出了室内GPS角度校准装置的技术要求,并分别对俯仰角校准和水平角校准所需准确度进行估计,最终利用新型同轴调整装置结合精密转台和竖轴激光导轨研制了一套室内GPS发射器角度校准装置,试验数据表明该装置的俯仰角测量误差小于0.9″,水平角测量误差小于1.6″,解决了室内GPS发射器水平角和俯仰角的校准问题。  相似文献   
15.
2m比长仪纳米级高精度刻线自动瞄准系统   总被引:1,自引:1,他引:0  
阐述了2m比长仪刻线瞄准系统的组成,对其光电显微刻线成像的原理及刻线图像信号进行了分析,根据其刻线信号的特点,研究了其高精度的刻线信号自动处理系统,该系统基于FPGA现场可编程电路技术,实现刻线信号的自动门控触发、自动滤除虚假刻线信号,配合计算机信号自动处理软件可以实现刻线测量的高精度自动瞄准.最后对2m比长仪的瞄准精度进行了测试实验,实验结果表明,测量金属标准线纹尺时,2m比长仪单次测量刻线瞄准精度优于10nm(1σ).  相似文献   
16.
设计了一种新型带有自标定的数字准直瞄准测量系统。系统采用测微准直望远镜与CCD视觉系统相结合的方式,将测微准直望远镜的目视测量视场转换成数字测量视场,进而实现在整个数字视场范围内取样测量。通过对CCD相机的角度当量和位移当量进行标定,可直接计算出线位移和角位移,实现了数字化测量。通过实验验证,该系统的定位测量不确定度优于激光跟踪仪,定向测量不确定度优于经纬仪,可用于工业大尺寸测量。  相似文献   
17.
摄影测量技术的逐渐成熟使得工业摄影测量系统的应用范围越来越广泛。然而,目前国内还未建立起摄影测量系统的校准规范或标准。本文总结了国内外与摄影测量系统校准技术相关的研究与应用,并在此基础上研究摄影测量系统的校准技术和方法、研制专用的标准器具和校准装置,拟制定一套完整的工业摄影测量系统校准规范,为摄影测量系统的制造和使用提供计量基础保障。  相似文献   
18.
针对机车动态限界图像中目标点自动识别的问题,提出一种基于双分辨力分析的目标点识别算法,解决了高分辨力图像对于多目标的搜索效率问题,并提出了一种自描述向量用于改进传统的RANSAC算法,以减少背景噪声的干扰,完成了不同限界图像目标点的单应矩阵的求解问题。最终实现高效且准确的目标点自动识别与匹配。  相似文献   
19.
阐述了2 m激光干涉测长基准装置工作原理及系统组成,以线间距测量功能为基础,研究了接触式和非接触式的几何测长对准方法,实现了其测长功能拓展应用。介绍了实现纳米精度测长的技术措施。对称布局的双光电显微镜同步扫描测量接长的方式实现2 m刻线间距测量,信号处理系统具有标准间距位置脉冲发生功能,可以实现位移传感器动态触发校准和其它应用。对于高质量的线纹尺,2 m激光干涉测长基准装置单次测量刻线间距的最佳瞄准精度优于10 nm(1σ),1 m测量范围内的线纹测量不确定度U=(20+40 L) nm (k=2)。  相似文献   
20.
高端装备的大型零部件几何尺寸测量与控制是保证产品交付质量的基础,高端装备性能及产量的提升对几何尺寸测量提出了更高的精度与效率要求.本文结合大型零部件几何参数测量需求,介绍了大尺寸坐标测量、扫描测量、姿态测量、协同测量、组网测量、动态测量六种大尺寸测量技术的工作原理、典型仪器以及应用特点,分析了固定式测量系统和柔性测量系...  相似文献   
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